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法国phasics 波前分析仪SID4系列
- 品牌：深圳科时达
- 型号： SID4系列
- 产地：法国
- 供应商报价： 面议
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深圳市科时达电子科技有限公司
更新时间：2024-04-26 06:25:51 -
企业性质一般经销商
入驻年限第3年
营业执照已审核
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联系方式：林建军0755-29852340
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- 详细介绍
法国Phasics 公司的产品基于其波前测量专利技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将高分辨率和大动态范围较好结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。具有如下独特技术优势：
高分辨率的相位图，高分辨率可达400ｘ300。
具有直接测量高发散光束的能力
消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。
应用方向：
激光束质量分析
自适应光学
光学系统测量
生物成像
热成像，等离子体表面物理
型号
SID4
SID4-HR
SID4-DWIR
SID4-SWIR
SID4-NIR
SID4-UV
SID4 UV-HR
孔径
3.6 × 4.8 mm2
8.9 × 11.8 mm2
13.44 × 10.08 mm2
9.6 × 7.68 mm2
3.6 × 4.8 mm2
7.4 × 7.4 mm2
8.0 × 8.0 mm2
空间分辨率
29.6 μm
29.6 μm
68 μm
120 μm
29.6 μm
29.6 μm
32 μm
采样点/测量点
160 × 120
400 × 300
160 × 120
80 × 64
160 × 120
250 × 250
250 × 250
波长
400 nm ~ 1100 nm
400 nm ~ 1100 nm
3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm
0.9 ~ 1.7 μm
1.5 ~ 1.6 μm
250 ~ 450 nm
190 ~ 400 nm
动态范围
> 100 μm
> 500 μm
N/A
~ 100 μm
> 100 μm
> 200 μm
> 200 μm
精度
10 nm RMS
15 nm RMS
75 nm RMS
10 nm RMS
> 15 nm RMS
20 nm RMS
10 nm
灵敏度
< 2 nm RMS
< 2 nm RMS
< 25 nm RMS
3 nm RMS (高增益）
< 1 nm RMS (低增益）< 11 nm RMS
2 nm RMS
@ 250 nm, 2 μJ/cm20.5 nm
采样频率
> 100 fps
> 30 fps
> 50 fps
25/30/50/60 fps
60 fps
30 fps
30 fps
处理频率
10 Hz (高分辨率)
3 Hz (高分辨率)
20 Hz
> 10 Hz (高分辨率）
10 Hz
> 2 Hz (高分辨率）
1 Hz
尺寸
54 × 46 × 75.3 mm
54 × 46 × 79 mm
85 × 116 × 179 mm
50 × 50 × 90 mm
44 × 33 × 57.5 mm
53 × 63 × 83 mm
95 × 105 × 84 mm
重量
250 g
250 g
1.6 kg
300 g
250 g
450 g
900 g
