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HORIBA 全自动表面等离子体共振成像仪 XelPleX

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详细介绍


产品简介
全自动表面等离子体共振成像仪上市时间:2015年4月1.创新的阵列式芯片设计,同一芯片可同时分析超过400组相互作用,与传统的通道-技术相比,所需时间缩短百倍,并节约试剂和人力成本。 2.成像技术,提供时空分布信息,*时间判断互作是否发生;并可判断互作是否异常,辅助解释有难点的数据。

全自动表面等离子体共振成像仪
1.创新的阵列式芯片设计,同一芯片可同时分析超过400组相互作用,与传统的通道-技术相比,所需时间缩短百倍,并节约试剂和人力成本。 2.成像技术,提供时空分布信息,*时间判断互作是否发生;并可判断互作是否异常,辅助解释有难点的数据。 3.创新的流体系统,可直接注入复杂样品,不易堵塞,耐受有机溶剂。拓展传统SPR应用范围,每年节约数万维护费用。 4.的表面化学技术,拓展应用。 5.自动化样品回收技术,节约珍贵样品,可将互作后样品用于交叉验证等实验。 6.独特的样品循环技术,可检测低样品浓度,并维持动态平衡。 7.*的SPRi芯片-质谱直接联用,-无需洗脱和浓缩,即可实现动力学分析和物质鉴别。 8.多功能软件包,全程引导式操作,批量处理数据及快速分类,方便调用实验模板及数据处理模板。 9.智能全自动,可实现72h以上无人看守实验。


产品优势
全自动表面等离子体共振成像仪上市时间:2015年4月1.创新的阵列式芯片设计,同一芯片可同时分析超过400组相互作用,与传统的通道-技术相比,所需时间缩短百倍,并节约试剂和人力成本。
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