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HY 高分辨X射线应力分析仪 DST-17

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HY 高分辨X射线应力分析仪 DST-17 核心参数
仪器分类: 单晶
详细介绍

DST-17型X射线应力分析仪,为材料及其制品研究提供最可靠检测手段。可对多领域的材料结构、不规则形状的部件进行残余应力、织构精确测量。

DST-17型X射线应力测定仪.jpg  仪器的特点是大功率、高分辨、测量结果准确。
性能描述
  高精度的衍射角测量装置,获取最准确的2θ角;
  实现同倾、侧倾法残余应力测量;
  测定同一点X、Y方向应力测量自动转换,无需
操作样品;
  同一平面内任意设定样品测量点数,自动顺序完
成残余应力测量;
  高分辨率SDD探测器,靶材固定时,可实现对各种材料残余应力测量;
  同时配置Si漂移线阵探测器,快速完成残余应力测量;
  α转动范围大,实现侧倾法应力测量,极图测量;
  内置激光测距定位器,实现样品全自动定位,重复精度小于3μm;
  CCD摄像头和激光辅助定位系统,样品人工定位更轻松;







  




 整的数据处理软件,可编辑密勒指数、杨氏模量泊松比计算参数,实现对残余应力、半峰宽、奥氏体含量等准确计算。专业软件完成织构计算、绘制极图。
技术参数
  2θ角度范围:110°—170°、Ψ角范围:0—60°、Ф角范围:0—360°、α角范围:0—70°。2θ角分辨率最小至0.01°,重复精度0.0001°;
  X射线发射器管电压:10—60kV、管电流:5—50mA;稳定度:小于0.005%。
  金属陶瓷X射线管:Cu、Cr、Fe、Ti、V、Co、Mn等各种靶材,入射线圆形光斑:0.2、0.5、1、2mm;矩形光斑:0.5×3、0.5×5、1×3、1×5、2×3、2×5mm等。
  产品符合ASTM E915-2010、及EN 15305-2008及GB7704-2008残余应力分析检测标准,生产过程符合ISO 9001质量管理体系的要求。



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