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Microchip 53100A相噪及频率稳定度测试仪
- 品牌：美国Microchip
- 型号： 53100A
- 产地：美国
- 供应商报价： 面议
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北京创宇星通科技有限公司
更新时间：2022-09-30 15:36:35 -
企业性质生产商
入驻年限第3年
营业执照已审核
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- 详细介绍
Microchip 53100A相位噪声分析仪
概述
53100A相位噪声分析仪可以测量高性能RF信号源的幅度、相位和频率稳定性。测试频率范围为1MHz到200MHz。53100A可以告诉您关于您被测设备的任何稳定性特性，时间刻度范围可以从飞秒到天。无论是单独使用还是集成到自动化测试系统中，小巧的外形和业界领先的测量速度使得51300A可以适用于大多数应用。
继承并扩展了3120A和51XXA系列仪器的优点，53100A可以以更低的成本来快速精确地测量SSB单边带相位噪声和ADEV阿伦方差。得益于改进地设计和制造工艺进步，53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。
特点
信号输入和参考输入，频率范围1MHz到200MHz
没有相位锁定和不需要测量校准
单或双参考振荡器输入允许互相关测量
TSC 51XXA命令和数据流仿真功能减少了重写现有测试脚本的负担
直观的图形界面使用户能够快速开始测量
测量
亚皮秒精度相位和频率差的实时带状图
频率计数精度每秒钟13位以上，可到17位
ADEV典型值<5E-15（1秒）
可以测量MDEV、HDEV、TDEV
相位噪声和幅度噪声偏移范围为0.001Hz到1MHz，水平典型小于-175dBc/Hz（10MHz载波）
时间抖动、残余FM调频和SSB载波/噪声比率
在Windows系统上使用高性能的基于电脑的DSP技术，所有这些测量都可以同时进行。您可以查看、保存、比较、打印和导出各种格式数据，包括TSC 51XXA兼容的。测量精度取决于用户提供的外部参考源，参考源频率为1MHz到200MHz，仪器本身不需要校准。
规格（25℃环境），除非备注其他温度
性能
频率范围
1到200MHz
ADEV
<7E-15 (1秒)
<2E-16(1000秒)
相位噪声规格
偏移频率范围：0.001Hz到1MHz
系统噪声平面
偏移
5MHz载波
100MHz载波
1Hz
-135
-120
10Hz
-145
-130
100Hz
-155
-145
1kHz
-165
-160
10kHz
-170
-170
>100kHz
-170
-170
Spurious (5到100MHz)
-100
-100
电气特性
输入信号电平：-5到+15dBm
输入阻抗：50欧姆
机械和环境规格
尺寸：13.5×8.5×3.6（344×215×91毫米）
功率：小于20瓦（90到264VAC）
操作温度：+15℃到35℃
存储温度：-20℃到50℃
重量：3.2kg（7英镑）
平均故障间隔时间：90000小时（在25℃）
符合：RoHS，CE，FCC
包含附件
USB2.0线缆，A(公)/B(公)
电源线
2个N(公)/BNC(母)同轴适配器
5个SMA(公)/SMA(公)同轴跳帽，1英寸（25.4毫米）
前面板
N(公)RF连接头：2个，连接被测信号和参考信号
SMA(母)RF连接头：4个，多通道扩展
LED：仪器状态指示
后面板
USB-B连接：电脑连接
SMA(母)RF连接头：3个，保留以备进一步使用
直流输入插座(2.1毫米)：使用外部15V电源供电时用
订购信息
编号
描述
090-53100-000
53100A相位噪声测试仪
软件
53100A软件随产品一起邮寄。在软件里可以设置各种测量配置/速度，更改显示设置，导入导出数据，运行脚本，设置通过/失败掩膜曲线等等。
