DiaInspect-ISE表面交互式磨损分析系统

DiaInspect-ISE表面交互式磨损分析系统

刀具表面磨损分析测量仪

DiaInspect-ISE是一个工具表面交互式磨损分析系统。（例如烧结段或锯珠）该系统使用光学扫描显微镜的硬件。

主要特点：

●可自由选择的磨损分类

●自动存储每个粒子的真实坐标（例如烧结段或锯条）。。

●真实粒子、图像和被测参数之间的交互连接

●高放大图像的存储

●具有多聚焦功能的深聚焦图像

●曲面和三维扫描模式

●突出高度的简易测量

●EXCEL结果表

DiaInspect ISE是一个用于交互评估刀具表面磨损的系统。它基于光学扫描显微镜DiaInspect.OSM的硬件。它适合分析分段或线锯珠的磨损表面。

硬件：

该系统基于具有5个放大步骤的特殊显微镜、四个数字控制LED光源和高质量数字工业摄像机。该显微镜配备有电机驱动的聚焦和电机驱动的XY-台。可连接旋转轴检查珠子。所有轴均由操纵杆控制或直接通过控制程序。摄像头通过USB3连接到PC和图像处理软件。

软件：

软件分两步指导用户分析刀具表面。在一步中，创建刀段或焊道表面的概览图像。在二步中，用户在概览中定位磨粒

图像，以更高的放大倍数显示，用于交互式分类。EXCEL格式的数据库存储研磨点的坐标和分类。

操作原则：

DiaInspect.ISE有效地支持工具表面上所有研磨点的位置和磨损阶段的交互式收集。概览图像用于查找颗粒，然后通过显微镜的电机自动定位在相机图像中。可以高分辨率和高分辨率检查研磨点高聚焦深度。该程序用彩色边框标记已检查的研磨点。

特色：

50. 可定义的磨损分类
50. 保存研磨点的坐标
50. 高倍率图像可能与研磨点有关
50. 堆叠的焦点图像可以与研磨点相关联
50. 突出高度测量
50. EXCEL结果文件

技术数据：

电源：110-230伏交流电。

系统要求：

PC Windows 7 x64或Windows 8 x64

所需资源：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0

CPU-CORES：>=2

CPU-CLOCK：>=2GHZ

内存：8GB

监视器：2x>=22英寸（>=1680x1050）

机械参数：

焦距：20毫米

X行程：76毫米

Y行程：50毫米

旋转：360°

特殊功能：

带有三轴操纵杆的灵敏运动控制

操纵手柄X轴到X驱动或旋转的自动布线

驾驶取决于操作模式（分段或胎圈）

易于安装的旋转驱动装置，带有磁珠支架

灵活的数字控制照明：

-用于宏观光学的环形光

-所有镜头的背光

-机头透镜的同轴照明

-伪暗场照明

测量功能：

-图像中的线条长度

-图像中两条线之间的角度

-两个焦点位置之间的高度差

-图像外两点之间的距离限制成像功能：

-将实际相机图像保存为JPG、BMP、TIF

-保存多焦点图像（曲面、高度贴图、组合视图）

-在图像中自动插入标尺