DiaInspect-OSM粒子分析仪

DiaInspect-OSM粒子分析仪

DiaInspect OSM是一种数字显微镜，用于工业金刚石和其他磨料的尺寸和形状分析。这种高分辨率的电动显微镜适用于从微米到锯片粒度的各种粒度。

主要特点：

●每个参数的直方图，每个参数组合的散点图

●所有参数组合示意图

●虚拟排序（2D和3D）

●具有多聚焦功能的深聚焦图像

●孔隙度扫描模块

●曲面和3D三维扫描模式

●一键式报告生成

●一键式数据传输至EXCEL结果表

●真实粒子、图像和被测参数之间的交互连接

DiaInspect OSM是一种自动控制显微镜，用于磨料和工具的尺寸、形状和分段分析。它涵盖了从微米到粗砂的整个粒度范围。

操作原理：

一定数量的颗粒必须分散到玻璃板上。当检查粒径为几微米的颗粒时，建议湿敷粉末。玻璃板通过XY台在扫描运动中移动。阵列大小将根据实际放大级别自动选择。图像采集部分从玻璃板的每个部分获取并分析连续图像，因此可以以高图像分辨率检测大量单个粒子。

技术数据：

电源：110-230伏交流电。

测量范围

粒度：1µm…3mm

扫描范围：76 x 52毫米（XY-stage）

处理时间：约15分钟（制备和测试2000个粒度为50µm的颗粒）

系统要求：

PC Windows 7 x64或Windows 8 x64

所需：1x USB 3.0端口；1x USB 2.0

CPU核心数：>=2

CPU时钟：>=2GHZ

内存：8GB

监视器：2x>=22英寸（>=1680x1050）

计算参数：

每个粒子计算了20多个参数

• 小feret直径
• 大feret直径
• 圆当量粒径
• 总面积
• 周长
• 凸周长
• 惯性矩
• 费雷特伸长
• 密实度
• 粗糙度
• 椭圆度
• “透明”显示区域的百分比
• “透明”显示区域的相对亮度
• CIE L*a*b系统中的颜色坐标

硬件：

该系统的主要部分是5级放大的显微镜、数控照明装置和高品质的数字工业摄像机。显微镜配有电机驱动的Z轴和电机驱动的X轴和Y轴机械分级设备。所有轴由操纵杆或直接由控制程序控制。摄像机通过USB3连接到图像采集系统，采集系统可以通过软件进行图像处理。

软件：

系统操作由一个易于操作的程序界面控制，该界面在普通PC机上运行。

报告：

控制程序生成打印报告，其中包含每个参数的统计结果以及直方图和密度图。对于采集数据的科学工作，传递函数会将所有粒子的每个数字复制到EXCEL工作簿中。

特色：

控制程序显示一个数据网格，其中一行包含单个粒子的参数。只需单击任意一行，所述粒子的图片就会显示在显示器上。因此，粒子图像和数字之间的相关性更容易理解，这些数字在数字上描述了粒子的外观。

一个特殊的附加组件是虚拟分拣设备。它允许对检查的粒子应用虚拟排序过程：排序范围可以通过上述两个参数的随机数组指定。密度图显示了粒子沿选定参数的分布。在哪个框中，程序必须将粒子放置在密度图的某个区域内，只需拖动鼠标即可指定。在“排序”之后，程序会显示每个框中的粒子数量，并为每个框生成一张图片，显示现在在框中的粒子。