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Phasics SID4 NIR波前传感器
- 品牌：法国Phasics
- 型号： SID4 NIR
- 产地：法国
- 供应商报价： 面议
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屹持科学仪器香港有限公司
更新时间：2024-03-27 10:28:45 -
企业性质生产商
入驻年限第6年
营业执照已审核
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- 详细介绍
Phasics SID4 NIR波前传感器
基于Phasics四波横向剪切干涉专·利技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。确保非常精确的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。
特点：
由于其独特的专·利技术，Phasics的SID4-NIR波前传感器具备以下特点：
1.高分辨率：160x120测量点
2.高数值孔径测量：无需转镜头
3.消色差：1.5-1.6μm
4.结构紧凑：易于集成于光学系统
应用：
SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学，如用于电信领域或光谱和夜视设备。
镜头表征：实时提供MTF和畸变数据。结构紧凑，易于集成于试验台和生产线。
光学设备校准：它提供了一个非常准确的最小像差测量。
SID4 NIR产品参数：
波长范围
1500 - 1600 nm
通光孔径
3.6 x 4.8 mm2
空间分辨率
29.6 µm
采样点（相位/强度）
160 x 120 (> 19 000 points)
相位相对灵敏度
< 11 nm RMS
相位精度
15 nm RMS
动态范围
~
采样频率
> 60 fps
实时分析频率
> 10 fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
44 x 33 x 57.5 mm
重量
~250 g
上海屹持光电技术有限公司
马·先生156·1899·6225
- 产品优势
- 基于Phasics四波横向剪切干涉专利技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。确保非常精确的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。
