德国麦奇克莱驰 颗粒分析器 CAMSIZER® X2

产品介绍：

CAMSIZER X2是一款功能强大、用途极其广泛的粒度粒形分析仪，其测量范围宽，结合了优秀的双CCD镜头技术和灵活的分散模块选项。基于动态图像分析原理（ISO 13322-2），CAMSIZER X2可在0.8μm至8 mm的测量范围内提供粉末、颗粒和悬浮液的精确粒度粒形信息。

CAMSIZER X2产生的颗粒流，通过具有高分辨率光学系统进行表征。一个超亮LED频闪光源和两个高分辨率数码相机，可以达到每秒300多张图像的帧速率，并通过强大的软件进行实时评估。因此，CAMSIZER X2可以在1到3分钟内以最 高的精确度捕捉数十万到数百万个颗粒的图像。

CAMSIZER X2提供了广泛的颗粒信息选项，实现对样品材料进行全面和可靠的表征。它适用于研发和日常质量控制。

颗粒分析仪 CAMSIZER X2

由于双镜头技术，超宽的测量范围。

Microtrac MRB独特的双镜头技术是动态图像分析发展的里程碑。通过同时使用两个不同放大倍数的相机，获得了极宽的动态测量范围。这是在没有硬件调整或修改的情况下完成的，并且不会影响精度。每个镜头专用于一个测量范围。 放大镜头以最 高的精度分析细颗粒，而基准镜头以极好的统计数据检测较大的颗粒。一个特殊的算法结合了两个相机提供的信息，并在测量范围内提供精确的粒径分布，已有三十多年！ 这种设计解决了许多图像分析系统一个重大的缺点，只使用一个镜头，如显微镜。这种仪器要么在宽粒径分布范围内，不能正确地测量细颗粒，要么由于视野小而无法准确捕获大颗粒。

测量原理

在测量过程中，双CCD镜头同时工作：基准镜头（蓝色）分析较大的颗粒，放大镜头（红色）捕捉较小的颗粒。双CCD镜头技术可确保粒度分布中所有颗粒的最 佳测量条件。

颗粒分析仪 CAMSIZER X2 

X-CHANGE模块切换系统

在颗粒通过测量区域之前，正确的样品制备和颗粒分散与实际分析测量一样重要。特别是对于容易团聚的细粉颗粒，充分分散对测量结果的可靠性至关重要。因此，不同的进样方式有助于在不破坏单个颗粒的情况下实现团聚体的分散。我们的X-Change分散模块切换系统完 美地满足了这一要求。

精心设计，实现更 大灵活性

CAMSIZER X2的模块化“X-Change”系统提供三种可选分散方法，允许为每种样品类型选择最 佳分散方法：压缩空气分散X-jet、重力分散X-Fall、湿法分散X-Flow。模块化及插拔式设计，允许在一分钟内方便安全快速地交换分散模块。

通过压缩空气分散

X-Jet分散模块通过文丘里喷嘴分散样品，适用于粉末的有效分析。颗粒的实际测量发生在气流中。分散压力可设置在0 kPa和460 kPa之间。这确保了所有样品类型的最 佳分析条件。

在液体中分散

CAMSIZER X2还提供了使用X-Flow分散模块分析液体中颗粒的选项。悬浮液在一个闭环中流过一个玻璃样品池，通过镜头记录颗粒图像。集成超声系统有助于进一步分散过程。

通过重力分散

X-Fall分散模块可用于敏感样品的无损测量，以尽量减少自由落体过程中颗粒破碎。分析后可回收样品。

X-JET压缩空气分散

由于表面作用力，许多材料容易团聚。在通过文丘里喷嘴时，X-Jet模块有效地分散气流中的颗粒。分散压力可根据单个颗粒的需要设置。例如，对于易碎颗粒，减压可确保无损测量。通过测量区域后，样品由真空吸尘器自动从分析仪中取出。

X-FLOW湿法分散模块测量

X-Flow湿法分散模块分析0.8μm至1 mm粒径范围内的悬浮液。样品在从分散槽到流动池的闭环内移动，在样品池中，双CCD相机系统捕捉颗粒图像。X-Flow分散模块配有超声波浴和强大的离心泵，以确保高效分散。适合的分散介质是水、乙醇以及非极性有机溶剂。

X-FALL重力分散模块

使用X-Fall模块可以分析流动的、不易团聚的样品。这种测量是无损的，因为颗粒通过视野直接从斜槽落下。X-Fall适用于粒径最 高可达8 mm的颗粒；对过大颗粒的检测灵敏度极高。与压缩空气分散不同的是，X-Fall测量后样品可以回收

颗粒分析仪 CAMSIZER X2仅仅图像分析法可以提供粒形信息

散体材料的密度、流动性、紧实性、输送特性和表面状况等性能受颗粒形状的影响。这使得这些参数成为许多应用领域的关键工艺和质量指标。

举例:

• 磨料的棱角度

• 颗粒破碎组分分析

• 玻璃微珠中聚集颗粒测量

• 增材制造用高分子或金属粉末颗粒的圆度分析（直接影响流动性和包装密度）

• 针状晶体的长度和直径

• 对砂粒的圆度进行分析，以评估其作为建筑材料或支撑剂的可使用性，或用于地质检查

各种参数可用于形状量化。其中包括宽长比（纵横比）、圆度（由面积周长比计算得出）、对称性、凹凸度和紧密度。圆度是从颗粒角的曲率计算出来的。

颗粒分析仪 CAMSIZER X2

仅对于球形颗粒，“粒径”定义是明确的：直径在所有方向和取向上相同。但是，对于非球形粒子，粒径可能会发生很大变化，这取决于测量的方向和取向。例如，传统的筛分分析是将筛孔大小不同的金属丝网筛上的颗粒分离成不同的组分。 颗粒能通过的最 小筛孔由颗粒的最 小投影面确定。因此，筛分分析测量优先取向的颗粒，并提供主要基于颗粒宽度的信息。激光粒度仪将所有测量数据与球形颗粒模型的直径联系起来。只有图像分析法可以准确同时提供不同粒径定义的粒度信息。这使得测量结果可与其他技术获得的结果相比较。 动态图像法的突出优点是可以同时测量颗粒的宽度和长度，并根据这些参数提供粒度分布。颗粒宽度（红色曲线）很容易与筛分分析结果进行比对。

每个应用程序的最 佳配置

附件和选项

Microtrac MRB为特殊应用提供各种料斗和料槽。分散喷嘴和样品池有不同的孔径大小，以确保每次测量的最 佳条件。CAMSIZER X2校准只需一分钟，可以使用高精度参考校正板进行。

漏斗和降落装置

 为了成功测量干粉，必须将样品连续均匀地输送到分析仪中。为了达到最 佳的进料条件，即使是易黏附粉体，我们可提供由不锈钢或铝硬质涂层制成的不同进样料斗。根据设计，X-Jet模块的进样料斗比X-Fall模块的长。X-Jet模块料斗的端部可以用圆形或方形出口制造。通过在料斗上放置塑料刷，可以进一步均匀粉末流。 为了成功测量干粉，必须将样品连续均匀地输送到分析仪中。为了达到最 佳的进料条件，即使是易黏附粉体，我们可提供由不锈钢或铝硬质涂层制成的不同进样料斗。根据设计，X-Jet模块的进样料斗比X-Fall模块的长。X-Jet料斗的端部可以用圆形或方形出口制造。通过在料斗上放置塑料刷，可以进一步均匀粉末流。
进样漏斗可方便地将样品引入进料装置。漏斗可由铝或不锈钢制成，最 多可容纳0.6升样品。

分散喷嘴

防护罩 (X-JET, X-FALL)

防护罩可防止灰尘在测量过程中释放到环境中。对于不应长时间暴露在环境空气中的样品，可使用惰性气体进行冲洗。此外，防护罩可将噪音水平降低5分贝以上。防护罩由有机玻璃制成，可与X-Dry模块一起使用。

自由落体轴（X-FALL）

 对于X-Fall模块，标准尺寸为7 mm X 14 mm，对于较大颗粒，可使用14 mm X 14 mm的自由落体模块。

颗粒分析仪 CAMSIZER X2

扩大测量范围

由于专 利双CCD镜头系统，单次测量包含所有量程，无需手动调整。

• X-Fall (重力分散)
  标准量程: 10 µm -3 mm
  可选量程: 10 µm - 8 mm
  
  

• X-Jet (空气压力分散)
  标准量程: 0.8 µm-1.5 mm
  可选量程: 1 µm - 5 mm
  
  

• X-Flow (湿法分散)
  标注量程: 0.8 µm - 1 mm

1) X-Fall的下限取决于样品的特性（团聚与否），易团聚样品推荐使用X-Jet或X-Flow模块。

3) X-Flow模块的测量上限取决于样品的密度，对于密度上限是2.5g/cm3的样品来说600µm是标准极限。
纤维和拉伸状样品可定制量程。

一切尽在 DIMENSIONS 软件掌控之中实时的颗粒分析

DIMENSIONS 软件包括四个结构清晰的工作区，分别是方法建立、测量运行、结果展示和结果对比的计算。 单个工作区可以与软件分离，例如，转移到第二台显示器，让您完全控制所有相关流程和参数。 结果计算的工作区在测量期间仍然可以使用。

优势

• 简单的方法开发

• 结构清晰的结果展示

• 多种计算选项