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美国Hinds 双折射(应力)测量系统 EXICOR-GEN

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详细介绍

产品介绍:

LCD材料的超低阶双折射测量用于LCD的Exicor GEN系列在与许多光学材料制造商合作多年后,Hinds仪器公司推出了Exicor 150OAT系统,用于测星大面积光学材料如用于LCD(高达1500mm x 1500mm)的光学材料。随着液晶显示器材料规格的成熟,专业化的系统已经成为行业所需要的。Hinds现在提供从GENS5到GENG的LCD玻璃尺寸系统,有可选的倾斜级(所有型号)以及厚度和翘曲测量(仅限GEN5和GEN6)。


重要特点

·占地小–大限度地减少设备所需的工厂空间·创新的平台设计–设计使可测量面积扩大化

·强大的自动化–质量阶段和硬件加大化正常运行时间·稳定的服务支持-多地的支持和备件中心

·符合工业标准–符合S2/S8和CE标准

·灵活的软件–优化的GUI软件。自定义功能和DLL接口可用·低维护设计–易于维修的组件

·负载辅助–倾斜阶段选项


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产品优势
LCD材料的超低阶双折射测量用于LCD的Exicor GEN系列
在与众多光学材料制造商合作多年后,Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系统,用于测量大面积光学材料,如用于LCD(高达1500mm x 1500mm)的光学材料。随着液晶显示器材料规格的成熟,专业化的系统已经成为行业所需要的。
Hinds现在提供从GEN5到GEN8的LCD玻璃尺寸系统,有可选的倾斜级(所有型号)以及厚度和翘曲测量(仅限GEN5和GEN6)。
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