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基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000 系列
- 品牌:日本基恩士
- 型号: VK-X3000
- 产地:日本
- 供应商报价: 面议
- 基恩士(中国)有限公司 更新时间:2024-04-26 16:58:43
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企业性质生产商
入驻年限第2年
营业执照已审核
- 同类产品粗糙度测量 / 激光显微镜(18件)
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- 详细介绍
产品介绍:
搭载白光干涉功能
纳米/微米/毫米一台即可完成测量超越激光显微镜的限制,以三重扫描方式应对
一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
一台即可了解希望获取的信息
最 高分辨率0.01 nm
采用了三重扫描方式,运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,高倍率和低倍率,平面、凹凸表面的细微粗糙度,以及镜面体,透明体等。VK拥有应对多种样品的测量能力(从 1 nm 到 50 mm),纳米/微米/毫米一台完成测量。
产品特性
Basic Characteristics
观察从光学显微镜到SEM领域一台设备涵盖
42 至 28800 倍
无需对焦
适用于多种样品
测量
非接触瞬间扫描形状
不会损伤目标物
纳米级别也可准确测量
透明体和坡度大的目标物也可测量
分析
希望了解的表面“差异”一目了然
定量化微小形状
轻松比较多个样品
粗糙度分析
三重扫描方式
解决“难以测量”的难题可根据样品工件的材料、形状和测量范围,选择激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,进行高精度测量。
最高分辨率0.01 nm
即使是纳米级的微小形状变化也能准确测量。
此外,如镜面体、透明体等测量难度高的材料也能实现高速、高精度、大范围的测量。连高度差较大的凹凸处
和大范围区域也能测量最 大扫描区域50 mm见方。
凹凸不平或手掌大小的物体也能整体扫描。
只需一台设备,即可同时掌握整体形状和局部形状。精确测量高倍率和低倍率。平面和凹凸面。
适用于各种目标物的测量能力
- 产品优势
- 一台即可测量纳米/ 微米/ 毫米
一台即可了解希望获取的信息
最高分辨率0.01 nm
- 基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000 系列
- 基恩士 形状测量激光显微系统 VK-X3000 系列
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