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二手 Veeco Dimension 3100 原子力显微镜 AFM

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详细介绍

Dimension 3100 扫描探针显微镜

Dimension 3100 SPM使用自动化的原子力显微镜和扫描隧道显微镜技术,可用来测量直径可达200毫米的半导体硅片、刻蚀掩膜、磁介质、CD/DVD、生物材料、光学材料和其它样品的表面特性。它的激光点定位系统和无需工具改变扫描技术的能力保证了仪器的适用性、易操作性和高的数据处理能力。


Veeco Dimension 3100 (原布鲁克Dimension 3100)轻敲模式原子力显微镜

量模式轻敲模式扫描范围:90Mm x 90um x 10nm

样品尺寸:150mmx150mmx15mm (XYZ)

样品台移动范围:150mm x 150mm,

旋转式噪声水平小于等于50Pm光学辅助观察系统百万像素数字摄像头,自动缩放及聚焦软件系统功能强大的测试及分析软件。


Dimension ®系列原子力显微镜(AFM)

长期以来在工业生产过程中以其高效、高能而享有盛誉。Dimension HPI和PRO系统专为大批量、生产过程的质量检测而设计,可实现多数AFM模式的自动化测量,系统具有易用性和极低的测试成本。提升了质量控制、提高了生产的质量保证和失效分析工作的效率。这些系统使用接触、轻敲和以及峰值力轻敲(PeakForcetapping®)技术,使用户能够精确控制探针与样品间的相互作用,延长探针针尖使用寿命,探针寿命可延长到几千次高精度测量。


原子力显微镜技术可以控制探针和样品之间任何一点的范德华力。这种精确的探针和样品之间的力控制允许将机器用在广泛

的样品类型上,从软聚合物、薄膜和电气样品到硬材料。它还提供低的可用于成像的力,探针寿命超过数百次

扫描和数据收集。

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