TH2829C自动元件分析仪
TH2829C自动元件分析仪
简介
TH2829系列自动元件分析仪应用高速处理器和新的软件系统,使其拥有更高的测试速度、更全面的分析功能和友好的人机交互体验。精心设计的测量电路和优化的算法,进一步提升了低D值电容和高Q值电感的测试稳定性。仪器提供的10V交流测试电平、10V/100mA偏置电源和独立的10V/50mA DC电源,使本仪器可更方便地应用于各种无源/有源器件的测试。双主副参数显示、增强的显示系统设计、多达201点的列表扫描、多种参数的图形分析能力,使仪器能满足用户最多的应用需求。 得益于新一代处理器的应用,使仪器具有了更强大的数据处理能力,可将测试结果方便地存储于U盘或通过多种接口上传至上位PC或网络,推进测试自动化,提高测试效率。本系列测试频率ZG为:20Hz-1MHz。具有0.05%的测试准确度、9ms/次的ZG测试速度。仪器配有HANDLER、USB、LAN、RS232C 、DCI、GPIB(选配)等丰富的接口,无不彰显丰富的资源,将带给客户较好的性价比体验。 TH2829系列元件分析仪可适用于各种工业和标准的测试要求。
功能特点
A. 多参数同时测量显示
B. 高稳定性和高一致性
C. 高速度
D. 功能与界面
E. 材料介电常数测试
F. 选配附件
应用
无源元件:
电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析
半导体元件:
LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析
其它元件:
印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估
介质材料:
塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估
磁性材料:
铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估
半导体材料:
半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
测试信号
频率
20Hz—300kHz
20Hz—1MHz
最小分辨率
1mHz,5位频率输入
准确度
0.01%
AC 电平
测试信号电压范围
5mV—10Vrms
电压最小分辨率
100μV,3位输入
准确度
ALC ON
10% x设定电压 + 2mV
ALC OFF
6% x设定电压 + 2mV
测试信号电流范围
50μA—100mA
电流最小分辨率
1μA,3位输入
准确度
ALC ON
10% x设定电流 + 20μA
ALC OFF
6% x设定电压 + 20μA
DC 偏置电压源
电压 / 电流范围
0V— ±10V / 0mA—±100mA
分辨率
0.5mV / 5μA
电压准确度
1% x设定电压 + 5mV
ISO ON
用于电感、变压器加偏置测试
AC源内阻
ISO ON
100Ω
ISO OFF
30Ω、50Ω、100Ω可选
DCR源内阻
30Ω、50Ω、100Ω可选
DC 电压源
电压 / 电流范围
0V— ±10V / 0mA—±50mA
分辨率
1mV
电压准确度
1% x设定电压 + 5mV
输出电阻
100Ω
LCR测试参数
|Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ, DCR, Vdc-Idc
测试页面参数显示
两组主、副参数,第二组参数可ON/OFF;多种参数连续扫描图形分析
基本测量准确度
LCR测试参数
0.05%
校准条件
预热时间:≥30分钟;环境温度:23±5oC; 信号电压:0.3Vrms-1Vrms;清“0":OPEN、SHORT后;测试电缆长度:0 m
测量时间(≥10 kHz)
快速: 9 ms /次 中速: 67 ms/次慢速: 187 ms/次另加显示字符刷新时间
LCR参数显示范围
| Z | , R , X, DCR
0.00001Ω — 99.9999MΩ
|Y|, G, B
0.00001μs — 99.9999s
C
0.00001pF — 9.99999F
L
0.00001μH — 99.9999kH
D
0.00001 — 9.99999
Q
0.00001 — 99999.9
θ (DEG)
-179.999o — 179.999o
θ (RAD)
-3.14159 — 3.14159
Δ%
-999.999% — 999.999%
等效电路
串联, 并联
量程方式
自动, 保持
触发方式
内部, 手动, 外部, 总线
平均次数
1-256
校准功能
开路, 短路全频、点频校准,负载校准
数学运算
直读, ΔABS, Δ%
延时时间设定
0 -- 999, 最小分辨率100us
比较器功能
10档分选,BIN1~BIN9、NG、AUX
档计数功能
PASS、FAIL前面板LED显示
列表扫描
·最多201点列表扫描,可单独对频率、AC电压/电流、 内/外DC偏置电压/电流、独立DC源 电压进行列表扫描测试。每扫描点可 单独分选
图形分析
·可对频率、AC电平、DC偏置等进行 图形扫描分析。
·设定扫描起始点、终止点,每次扫描点数。
·显示ZD值、最小值,读取选择的 任意扫描点值。
·可选择将扫描图形存贮于仪器内部 或外部USB 存储器。
内部非易失性存储器
100组LCRZ仪器设定文件记忆
外部USB存储器
GIF图像、CSV数据文件LCRZ仪器设定文件记忆测试数据USB存储器直接存储
接口
1A偏流源
可内部安装1A直流偏置电流源(选件)
I/O接口
HANDLER,从仪器后面板输出
串行通讯接口
USB、RS232C
并行通讯接口
GPIB接口(选件)
网络接口
LAN
存储器接口
USB HOST(前面板)
通用技术参数
工作温度, 湿度
0℃-40℃, ≤ 90%RH
电源要求
电压
99V-121V,198V-242V AC
频率
47Hz-63Hz
功耗
ZD80VA
体积(W×H×D)
400mm × 132mm × 385mm
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特点: -50kHz - 6GHz频率范围 -低漂移: 内置温度补偿最小化漂移 -高线性度 -改进的测量重复性: < 0.1dB typ -高动态范围: 110dB在5.8GHz (VNA6000-B) -高动态范围: 95dB在5.8GHz (VNA6000-A) -可调IFBW: 实现测量速度和噪声之间的最佳权衡 可以测量窄带设备 -可以连接到PC (NanoVNA-QT软件): S参数导出
特点: -50kHz - 6GHz频率范围 -低漂移: 内置温度补偿最小化漂移 -高线性度 -改进的测量重复性: < 0.1dB typ -高动态范围: 110dB在5.8GHz (VNA6000-B) -高动态范围: 95dB在5.8GHz (VNA6000-A) -可调IFBW: 实现测量速度和噪声之间的最佳权衡 可以测量窄带设备 -可以连接到PC (NanoVNA-QT软件): S参数导出
规格 频率范围:40 MHz至40 GHz 测量参数:S11,S21,S12,S22,TDR等 动态范围:132dB 测量速度:80ms (201个点) 阻抗:50Ω 控制接口:USB 支持操作系统:Windows Linux
特性:1、电极内缩,可减小装配短路风险2、微波性能优良,适用频率 100kHz~40GHz3、表面金电极,适合于金丝键合应用:主要应用于微波集成电路(MIC)中,起隔直、RF 旁路、源旁路、阻抗匹配等作用。
特性:1、安装方便2、在 IC 封装中可减少引线长度并提高性能3、降低组装的复杂性和成本应用:主要应用于微波集成电路(MIC)中,起隔直、RF旁路、源旁路、阻抗匹配等作用。
特性:1、安装方便2、适合于电路设计和调整应用:主要应用于匹配网络、并联谐振回路、介质谐振的调谐或耦合。
特性:1、体积小、容量大(容量为10nF~100nF)2、容量温度系数好(TCC为X7R、X7S)3、工作电压高(可达100V)应用 :主要应用于高电压的滤波、旁路等。
特性:在氧化铝、氮化铝、氧化铍、铁氧体、微晶玻璃、石英等电路基片上沉积功能薄膜,将薄膜电感、薄膜电阻和分布参数电路元件集成在同一电路板,构成薄膜电路。所制作的元件参数范围宽、精度高、温度频率特性好,工作可达40GHz,并且集成度高、尺寸小。产品包括薄膜电路、陶瓷支撑片短路片及热沉片、薄膜微带线、金锡预成型焊盘等。