仪器网(yiqi.com)欢迎您!

| 注册 登录
网站首页-资讯-专题- 微头条-话题-产品- 品牌库-搜索-供应商- 展会-招标-采购- 社区-知识-技术-资料库-方案-直播- 视频

产品中心

当前位置:仪器网>产品中心> 北京理化赛思科技有限公司>多晶X射线衍射仪>QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列
收藏  

QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列

立即扫码咨询

联系方式:400-822-6768

联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!

为您推荐

详细介绍

仪器简介:

QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列是当今最次的商品化X射线衍射仪。

QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTRIII系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学duchuang的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。


主要特点:

QL转靶组合式多功能X射线衍射仪TTR III系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

技术参数

1. X射线发生器功率为旋转阳极QL转靶18KW
2. 测角仪为水平测角仪
3. 测角仪最小步进为1/10000度
4. 测角仪配程序式可变狭缝
5. 高反射效率的石墨单色器
6. CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带Mirror)(理学独有)
7. 小角散射测试组件
8. 多用途薄膜测试组件
9. 微区测试组件
10. In-Plane测试组件(理学独有)
11. X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
12. 分析软件包括:XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

主要的应用有:
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析

技术资料

厂商推荐产品

在线留言

换一张?
取消