安捷伦4287A射频LCR测试仪3Ghz

安捷伦Agilent4287A LCR测试仪

Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供精确、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。

与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精确测量。

Agilent 4287A射频LCR测试仪在1MHz～3GHz频率范围可以提供、可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测,

主要技术资料·仪器指标:1MHz～3GHz，以100KHz分档,阻抗测量范围宽，从200mΩ到3KΩ

在低测度信号电平上具有优良的测量重复性,基本精度为1%高速测量9ms,Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz～3GHz频率范围可以提供，

可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行测量。

生产、质量可靠,安捷伦 4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量速度非常快。此外，在小测试电流(100mA)处优良的

测试重复性还可以提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。系统组建简单

测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比,

试的质量和生产率。与反射测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行测量.

技术指标测量参数 Z|，|Y|，L，C, R，D, Q, X，G，B，θ测量电路形式：串联和并联工作频率：1 MHz～3 GHz频率分辨率：10 kHz

信号源特性：振荡器电平：5mVrms～0.25Vrms(输出端开路)电平显示单位：V，I，dBm,

生产率高，质量可靠,4287A 适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，

在小测试电流(100μA)处优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。

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