理学 WDXRF ZSX Primus IV 波长色散X射线荧光光谱仪

采用上照射设计，再不用担心污染光路，清理麻烦和增加清理时间等问题。 集合所有ZSX系列的优点：双真空系统，自动真空控制，mapping/微区分析，超轻元素*灵敏度和自动芯线清洗等。 ZSX PrimusIV可灵活分析复杂样品。30μm超薄窗光管，保证轻元素分析灵敏度。的mapping包可以检测同质性和夹杂物。ZSX Primus IV*具备迎接21世纪实验室挑战      

Features分析范围：

Be - U 较小的占地面积 微区分析 上照设计 30 μm超薄窗Mapping: 元素分布 He 密封:样品室一直在真空环境中

ZSX Primus IV

Rigaku ZSX Primus IV是一种管式以上的连续波长色散X射线荧光（WDXRF）光谱仪，可以快速定量测定铍（Be）到铀（U）中的主要和次要原子元素，样本类型 - 以标准。

新的ZSX指导专家系统XRF软件

ZSX指导为XRF测量和数据分析的各个方面提供支持。准确的分析只能由专家进行吗？不 - 那是过去。ZSX Guidance软件具有内置的XRF专业知识和熟练的专家知识，可以处理复杂的设置。操作员只需输入有关样品，分析组分和标准组成的基本信息。具有最小重叠，背景和校正参数（包括线重叠）的测量线可以借助质谱自动设置。

ZSX Primus IV具有创新的光学上述配置。由于样品室的维护，再也不用担心被污染的光束路径或停机时间。光学元件以上的几何结构消除了清洁问题并延长了使用时间。ZSX Primus IV WDXRF光谱仪具有的性能和分析最复杂样品的灵活性，采用30微米的管子，这是业界的终端窗口管，可提供出色的轻元素（低Z）检测限。

结合的测绘包装来检测均匀性和包裹体，ZSX Primus IV可以对样品进行简单详细的XRF光谱测量研究，以提供其他分析方法不易获得的分析见解。可用的多点分析还有助于消除不均匀材料中的采样误差。

使用EZ-scan软件的SQX

基本参数

EZ扫描允许用户在未事先设置的情况下对未知样品进行XRF元素分析。节省时间功能只需点击几下鼠标并输入样品名称。结合SQX基本参数软件，它可以提供最准确，速的XRF结果。SQX能够自动校正所有的矩阵效应，包括线重叠。SQX还可以校正光电子（光和超轻元素），不同气氛，杂质和不同样品尺寸的二次激发效应。使用匹配库和的扫描分析程序可以提高准确度。

特征

• 从Be到U的元素分析

• ZSX指导专家系统软件

• 数字多通道分析仪（D-MCA）

• EZ分析界面进行常规测量

• 管道上方的光学器件使污染问题最小化

• 占地面积小，使用的实验室空间有限

• 微量分析可分析小至500μm的样品

• 30μ管提供的轻元素性能

• 映射功能的元素地形/分布

• 氦气密封意味着光学器件始终处于真空状态