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光斑质量分析系统(光斑分析仪)

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详细介绍

BeamLeadingOEV1光斑质量分析系统

image.png

       基于高性能铟镓砷机芯的特性,BeamLeadingOEV1光斑质量分析系统能够对0.4/0.9um~1.7um的激光光斑进行分析与研究。可对激光光斑的光斑大小、光斑形状、质心位置以及能量分布等参数进行全面的测试和分析。该产品采用GigE接口,配套专用显控软件,便于用户使用,并提供tcp通信接口与第三方软件进行交互,支持用户兼容开发。

产品特点

产品功能

①高灵敏度InGaAs焦平面探测器

①光斑直径测量

②光谱响应范围0.4/0.9um~1.7um

②高斯光斑直径输出

③自动/手动增益控制

③光斑能量集中度检测功能

④自动/手动曝光时间控制

④光斑X、Y轴能量曲线显示

⑤原始图像与伪彩色图像同步显示

⑤光斑质心位置和peak峰值位置显示

⑥结构紧凑易于集成

⑥光斑图像2D/3D显示

技术指标

探测器类型

铟镓砷FPA

光谱响应

0.4μm ~ 1.7μm

0.9μm ~ 1.7μm

分辨率

640 x 512

1280 x 1024

640 x 512

320 x 256

像元尺寸

5um

15um

30um

有效面积

3.2mm x 2.56mm

6.4mm x 5.12mm

9.6mm x 7.68mm

帧频

100Hz

60Hz

50Hz

200Hz

曝光时间

105us-3885us

30us-1/帧频

1us-1/帧频

10us-1/帧频

量子效率

>70%@(0.4um-1.6um)

>70%@1550nm

>70%@1550nm

制冷模式

非制冷/制冷可选

制冷

非制冷/制冷可选

快门模式

全局快门

数字输出

8Bit GigE

传输接口

RJ45@GigE

滤光片接口

C-mount

重量

≤160g

≤310g

≤170g

尺寸

≤45mmx45mmx65mm

≤75mm x 75mm x

75mm@制冷

≤50mm x 50mm x

57mm@非制冷

软件操作界面

image.png 

主界面


1698716320887.png

2D/3D视图显示


image.png 

X、Y轴能量曲线显示


image.png 

结果统计显示

 

 

注:技术指标作产品介绍使用,仅供参考,以产品随机说明书为准,如有变更,恕不另行通知。


产品优势
基于高性能面阵短波红外相机所开发的光斑分析仪,含有专业的光斑分析软件。具有高精度和宽谱段的特点,可对激光光斑的光斑大小、光斑形状、质心位置以及能量分布等参数进行全面的测试和分析。
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