Particle Metrix NANO FLEX II 在线纳米粒度仪

德国Colloid Metrix公司是一家专业研发和制造表征交替特征的仪器公司。在胶体配方分析方面， CMX公司的STABINO，ZETA-CHECK和NANO-FLEX为用户提供了全新的流动/Zeta电位和粒度的测量方法，同时STABINO配合NANO-FLEX还提供多种滴定功能，可以实现不同PH值, 不同浓度的盐溶液以及聚电解质的溶液体系中颗粒的大小和Zeta电位的变化以及等电点的测量。

纳米粒度分析仪-180°（DLS）的测量原理

激光通过光纤和蓝宝石窗口聚集在样品上。窗口会反射部分入散光。激光的反射光和散射光在检测器上被测量。信号的波动部分是由于颗粒的布朗扩散所致。通过快速的傅里叶变换算法转换为能谱，并同激光自身的频率做对比。无需假设任何的分布模型，粒径分布直接从能谱数据中计算而来。

纳米粒度分析仪-180°（DLS）的应用

具备DLS方法的NANO-FLEX II几乎是无限制的，只要样品粘度处于牛顿流体的范围内，这是在液体中做自由布朗运动和准确测定颗粒粒径的前提。颗粒物所处的液体介质可以是水、也可以是有机溶剂。分散体的临界凝固点可通过粒径测试和电位测试来判定。因而NANO-FLEX II的传感器可浸入STABINO II的测试腔来达到这个目的。

一分为二

具备两种功能的一台仪器的最大弊端就是无法提供两组不同人来使用。NANO-FLEX II和STABINO II既可以合在一起使用，也可以分开单独使用。

180°DLS的特点

• 光路可以测量（＜0.3μm），意味着无多重散射的干扰；即使不透明的样品仍然可以测定

• 样品浓度可达40%v/v

• 粒径测试结果不会因为浓度的改变而改变

• 在同一测试中，具备高动态范围和高分辨率

• 可以实现原位测试，无需稀释

产品参数