纳米力学测试仪器 Hysitron TS75 TriboScope

布鲁克的纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope为原子力显微镜领域提供了定量、刚性探针的纳米压痕和纳米摩擦表征能力。

纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope与布鲁克的Dimension ICON、Dimension Edge和MultiMode 8联用，以扩展这些显微镜的表征能力。通过利用刚性测试探针，纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope消除了与悬臂基测量相关的固有限制、可变性和复杂性，从而在纳米到微米尺度上提供定量和可重复的力学和摩擦特性。

刚性探针优势

大多数 原子力显微镜（AFM） 利用适当的悬臂进行力学或摩擦学测试，在将悬臂的弹性和旋转刚度与材料对施加应力的反应分离方面提出了重大挑战。纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope采用刚性测试探头组件，允许在测试期间直接控制和测量施加的力和位移。

专有静电力驱动

纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope利用专有的静电力驱动和电容位移感传感器技术，提供业界领先的噪声水平和低热漂移，从而将性能描述到纳米级的极限。

力和位移反馈控制

纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope在闭环力控制或位移控制下工作。纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope利用 78 kHz 反馈环路速率，可以响应快速材料变形瞬态事件，并忠实地再现操作员定义的测试功能。