超薄涂镀层厚度仪

超薄涂镀层厚度仪

超薄涂镀层厚度仪 本仪器是一款非真空条件下，采用高精度、高分辨率的探测器，根据测试材料自动选择滤光片，采用适合激发全元素的Mo靶材，搭载FlexFP无标样定量计算方法，利用X射线荧光原理，测试样品无损，快速检测合金额材料中元素成分的光谱仪。

Ux-210采用通用的一条工作曲线，就可以满足测试常规金属材料（铁材、铜材、铝合金、锌合金）元素材料分析，判定材料性质特性，是质量部门和品质部材料检验的*。

产品应用特点：

1 X射线荧光原理，无损、快速、准确的检测和鉴定材料成分；

1 铜材、钢材、铝合金等1个数据库全部搞定；

1 FlexFP新技术的应用，无标样既能分析未样品；

1 高分辨率探测器，能够检测到几十ppm的元素含量；

1 固体、粉末、液体等样品可直接测试

1 几十秒可得出稳定准确的测试数据；

1 测试过程简单、输出报告多种格式、查询筛选统计功能齐全。

应用领域：

2 用于铁合金、镍基合金、钴基合金、钛合金、铜基合金、高温合金、铝合金及各种混杂合金系列成分元素识别和含量测试。

2 用于石油化工、精细化工、农业化工、锅炉、容器、管道等高温高压行业、制药、电力电站等金属识别。

2 铁合金系列：不锈钢、铬/钼合金钢、低合金钢、多具钢

2 铜基系列：青铜、黄铜、铜镍合金

2 铝合金：铸造铝合金、型材铝

2 镍基合金系列：镍合金、镍/钴超合金

2 钛基合金系列：钼钨合金、钴基合金系列、混杂合金系列。

测试元素范围：

测铁粉里面的如下元素，铁（40-70%），铝（1-10%）硅（1-10%）；锌钛钙镁硫磷（都小于2%）

产品指标：

测试元素范围：Na-U中的元素；

探测器类型： SDD探测器

探测器分辨率：145eV

高压范围：5-50Kv ，50W

X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；

光管靶材：Mo靶；

滤光片：8种符合滤光片自动切换；

CCD拍照：130万像素

微移动范围：XY15mm

输入电压：AC220V，50/60Hz

开盖方式：随意自动停

测试样品种类：液体、固体和粉末

测量范围：1ppm—99.99%

测量用时：30-200秒

测试环境：非真空测试

数据通讯：USB2.0模式

准直器：Ø1，Ø2，Ø4mm

软件方法：FlexFP

工作区：开放自定义

样品腔：300×300×100mm

整机重量：45kg