美国EIT UV Power Puck II四通道能量计 用于高速传送带或更慢的生产线等
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北师大光电WXM10三通道无线紫外辐照计选用高精度低功耗数字芯片,仪器电量可实时显示,可用于杀菌、水处理、医疗、育种、光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路、光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
北师大光电WXM10三通道无线紫外辐射计产品简介:
WXM10 型无线紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于杀菌、水处理、医疗、育种、光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路、光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
WXM10型无线紫外辐照计计量性能符合《JJG 879-2015 紫外辐射照度计计量检定规程》1级标准。

北师大光电WXM10三通道无线紫外辐照计产品特点:
光谱及角度特性经严格校正
主机IPS液晶显示
无线探测器,远距离无暴露测量
自动量程
大容量锂电池
电量实时显示
北师大光电WXM10三通道无线紫外辐照计主要技术指标:
*探头型号、波长范围及峰值波长如下:
(1)WUV254 探头:λ:(230~275)nm;λP=254nm
(2)WUV297 探头:λ:(275~330)nm;λP=297nm
(3)WUV313 探头:λ:(290~340)nm;λP=313nm
(4)WUV340 探头:λ:(315~370)nm;λP=340nm
(5)WUV365 探头:λ:(320~400)nm;λP=365nm
(6)WUV420 探头:λ:(375~475)nm;λP=420nm
根据需要测量的波长范围选择3个探头:
辐照度测量范围:(0.1~200000) W/cm2
相对示值误差:±8%
余弦特性(方向性响应)误差:10%
线性误差:±1.5%
换档误差:±1%
短期不稳定性:±1%(开机30min后)
疲劳误差:3%
零值误差(满量程 FS):±1%
响应时间:1 秒
使用环境:温度(0~40)℃,湿度< 85%RH
尺寸和重量:
主 机:103mm×76mm×43mm;0.15kg 单个探头:62mm×52mm;0.23kg
报价:面议
已咨询262次紫外辐射计
报价:面议
已咨询255次紫外辐射计
报价:¥2960
已咨询440次辐射测量
报价:¥3360
已咨询521次辐射测量
厦门佰氟达厂家生产供应批发销售半导体光伏高纯PFA等径变径三通扩口接头。三通扩口接头是一种用于PFA管道系统的连接件,它具有一个进口和两个出口,形如字母“T”。该接头通常由PFA材料制成,具有优异的耐腐蚀性、耐高温性和化学稳定性。它适用于各种化工、制药、半导体和其他高纯度流体传输应用。
厦门佰氟达厂家生产供应批发销售的等径变径pfa三通接头焊接二通管被广泛应用于半导体、光伏、LED、光纤、制药、环保工程,电镀、食品、超纯水、化学品系统等行业。并具有优异的耐腐蚀性和高温稳定性。总的来说,等径变径PFA三通接头焊接二通管提供了一种可靠和高效的管道连接方式,适用于各种高纯度流体传输领域。
美国欧可电动薄膜三通调节阀,是由PSL系列和OKE系列直行程电动执行机构和三通调节阀体组成。(也可配其它品牌直行程执行机构)。电动执行机构为电子式一体化结构,。
一进二出:当线圈通电时,1通向2,1与3关闭。当线圈断电时,1与2关闭,1通向3. 二进一出:当线圈通电时,2通向1,3与1关闭。当线圈断电时,2与1关闭,3通向1.
生物兼容的PEEK混合三通 材料:PEEK,PAT 尺寸:宽度(体):25.4mm 厚度:9.5mm 公差:±0.05mm 螺纹:10-32 用于1/16”OD管 压力:<350bar(<5000psi) 特别信息: 在HPLC梯度分析中是无金属, 内装蛋白PAT过滤器(PEEK与 混合材料), 多孔5μm,内部体积(包括烧结过滤器)为4μL。
本公司生产PEEK手紧接头,PEEK堵头,PEEK二通,PEEK三通,PEEK四通,进口PEEK管,PEEK内外丝,peek鲁尔接头,peek混合三通,PEEK泵头,PEEK高低压壳体,PEEK穿墙二通,PEEK穿板接头,peek管转接头PEEK采样针等用在液相色谱上的耗材配件。
防水
DYZC-3C三通道直流电阻测试仪,变压器的直流电阻是变压器制造中半成品、成品出厂试验、安装、交接试验及电力部门预防性试验的必测项目,能有效发现变压器线圈的选材、焊接、连接部位松动、缺股、断线等制造缺陷和运行后存在的隐患。为满足变压器直流电阻快速测量的需要,我公司研制了针对YN联接绕组的三通道直流电阻测试仪。该直阻仪实现了三相同时加电,独立电流采样、电压采样,同时测量并显示三相电阻值和三相不平衡率的功能,大大缩短了变压器直流电阻的测试时间,解决了电力变压器各分接绕组直流电阻测试耗时长的问题,所需时间仅为传统方法的1/3。