紫外光谱辐照计

紫外光谱辐照计，采用高速CPU处理器LIUX系统与高精度电子CCD光学传感器，利用长焦交叉非对称CT分光系统原理开发设计，具有设计轻巧、性能稳定、精确度高、性价比高、便于携带等特点，并配有5.0英寸高清电容触摸显示屏让您像操作手机一样熟悉自如。完全颠覆了老式高精度光谱分析仪体积巨大、操作繁琐、价格高昂等理念。可随时随地进行光源参数的采样测量，配合PC软件可对测试数据进行高效的分析处理，具备极高的测量线性和准确度，广泛应用于家居、商场、学校、医院、工厂、大棚、户外等现场照明测量领域。也可用于光源产品的研发、产线质量监控等环节。

紫外光谱辐照计可测量参数：
1.    相关色温 Tc（K）、黑体偏离Duv；
2.    光照度 E（lx）、烛光E（Fc）辐射照度 Ee（W/m2）；
3.    色品坐标（x，y）、（u，v）、（u′，v′）；
4.    相对光谱功率分布 P（λ）；
5.    显色指数 Ra，Ri（i=1～15）；
6.    色容差 SDCM（麦克亚当椭圆）；
7.    主波长、峰值波长、中心波长、质心波长、半宽度；
8.    明暗视觉比S/P；
9.    色纯度、红色比、绿色比、蓝色比，CIE1931三基色刺激值 X、Y、Z；
10.  蓝光危害辐照、辐曝时间、蓝光危害等级等；
11.  频闪测试（IEEE1789、ASSIST、SVM、CEC等）；
12.  逼真度Rf、色域指数Rg(TM-30色品参数，HPS350Y功能)；
13.  Qa（TLCI2012影视照明一致性指数)；
14.  更多功能参数可定制

设备特点：
◆体积小，重量轻，便于携带；
◆5.0"IPS高清LCD触摸屏，操作简单方便；
◆4000mA高容量电池，一次充电可连续使用10小时；
◆标配4G大容量数据存储卡，数据存储量60000条以上；
◆长焦交叉非对称CT分光系统具有良好的测量线性和测量准确度；
◆集光谱、照度/亮度、色度等测量功能于一体；
◆Linux操作系统，界面友好，操作简单顺畅；
◆自动温漂校零技术，无需在使用前进行校正零位，无需担心使用中温度漂移导致测试结果失准

主要技术指标：