TEA-1800型热膨胀系数分析仪

TEA-1800型热膨胀系数分析仪

TEA热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理技术，可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。

热膨胀系数分析仪独特技术

自主知识产权产品，拥有多项技术。

基于光干涉原理的创新技术，通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉，得到光功率随温度的变化曲线，通过计算得到材料的热膨胀系数。

采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、高速温度跟随、既定程序升温及保持控制。

非接触式无损检测，测试精度高。

具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。

热膨胀系数分析仪技术参数

温度范围 RT~1800℃

程序升温重复性偏差 ＜1.0%

程序升温速率偏差 ＜1.0%

热膨胀系数测量精密度偏差 ＜4.5%

热膨胀系数测量正确度偏差 ＜±15%

工作功率 4.0kw

升温速度 50℃/s（50℃~1200℃、真空氛围），45℃/s℃/（50℃~1200℃，N?氛围）

温度一致性 ±2.0℃（1200℃，真空），±4.5℃（1200℃，N?）

制冷要求 水冷

热膨胀分辨率 266nm