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二手Agilent ICP-OES 720 二手安捷伦 耦合等离子光谱仪

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二手Agilent ICP-OES 720 二手安捷伦 耦合等离子光谱仪 核心参数
仪器分类: 全谱直读
详细介绍

仪器硬件

样品引入系统包括可以在低气体流量和低电压下获得高精密度和高灵敏度的标准一体化石英炬管。订购光谱仪时可对样品导入系统进行选择。包括:

• 玻璃单通道旋流雾化室和 OneNeb 雾化器(仅 720 配置),可选择更换为 Seaspray 雾化器或 K 型雾化器

• 全电脑控制蠕动泵,0-50 rpm 转速可调,具有三或五个通道,分别用于上样、废液、内标/电离缓冲液以及MSIS 蒸气发生溶液

• 可选择配置中心管为使用或陶瓷的半可拆卸或可拆卸式炬管、高固体炬管和全玻璃样品导入系统气体控制软件采用转换流量控制器控制等离子体和辅助气流量。为防止燃气故障,此系统采用wan全联锁。

• 雾化气:软件控制气体流量,采用高精度调压器实现流量控制,或采用计算机实现质量流控制器 (MFC)。MFC0-1.3 L/min,0.01 L/min 增量可调(采用 MFC 时)

• 等离子体气:4.5~22.5 L/min,1.5 L/min 增量可调

• 辅助气:7.5~2.25 L/min,0.75 L/min 增量可调射频发生器

• 空冷自激式 40 MHz 高频发生器。功率为 700-1500 W,50 W 增量可调。每个方法中的不同样品类型可优化电源设置

• 射频耦合效率大于 75%

• 根据用户自定义的点火程序进行自动点火和熄灭

• 功率输出稳定性优于 0.1%

等离子体配置

水平观测系统 (720 ICP-OES)水平方向等离子体观测系统适宜于高灵敏度分析。较垂直观测系统相比,它将检测限提高了 3-12 倍。水平等离子体观测系统拥有du特的冷锥接口 (CCI),防止光学系统观测到更冷的等离子尾焰。相对于传统的水平系统减少了干扰,提高了系统耐高溶解固体能力并扩展了线性动态范围。较之切割气系统,CCI 是更优的等离子体接口,具有较低的运行成本。通过计算机控制调整等离子体在 X、Y 方向上的观测位置

光学系统

• 计算机优化且无移动部件的中阶梯光栅光学设计确保zui低的检测限和zui高的稳定性

• 400 毫米焦距多色器,恒温 35 °C 以保证优异的稳定性。通过 CaF2棱镜交叉色散多色器和中阶梯光栅(94.74 线/毫米)得到的光栅图 (70 Orders) 投影到专为用户设计CCD 检测器

• 计算机控制的标准多色器吹扫速度为 0.75 L/min。对波长低于 185 纳米的发射线用 3 L/min 加速吹扫。可用氩气或氮气吹扫(要求选配氮气吹扫组件)

CCD 检测器

• 专为用户设计的 CCD 检测器,采用了图像映射技术(I-MAP),从而实现 167~785 nm 的波长连续覆盖。检测器安装在两阶半导体制冷装置上,冷却至零下 35 度,暗电流和背景噪音低

• 自适应积分技术 (AIT) 允许在zuijia信噪比条件下同时测定高强信号和弱信号,该技术能够自动为每一个所选波长分配一个像素读取时间 — 越强的峰,积分时间越短,越弱的峰,积分时间越长。自适应积分技术与传统同步系统依次排列读取步骤不同,它能够在同一时间完成所有读取步骤,从而提供真正的同步测量

• 专为用户设计的检测器 Vista Chip II 拥有任意光谱 CCD检测器所能达到的zui快读出速度 — 即用 1 MHz 的时钟速度处理像素。对检测器上所有像素进行wan全采集的总读取时间为 0.8 秒左右。检测器两侧提供双向读取电路,使读取处理时间减少一半

• 百万像素 CCD 检测器的每个像素都有防溢出保护。可使强信号和紧邻的痕量分析物的弱信号能同时得到测定

• Vista Chip II 密封非常严实,意味着无需氩气吹扫便能在紫外光谱范围内获得优异的灵敏度。正是由于不需要再等待来自检测器的吹扫空气,因此也就避免了等待吹扫空气所造成的分析延迟,显著缩短了样品从等离子体进入分析器所花费的时间

软件

ICP Expert II 是一个易用的网络集成式仪器软件包。内置向导功能指导用户进行方法和序列的建立,提供的方法模板可快速进行方法开发。

• 计算机控制等离子气体流量、等离子体观测位置、点火、RF 功率、安全联锁和程序监测

• 多种背景校正技术,包括传统的单边、双边离峰法背景校正

• 快速自动谱线拟合技术 (FACT) 校正基体谱线干扰

• AutoMax 自动优化关键的仪器参数

• SmartRinse 优化样品间的冲洗时间,提高分析效率

• 多重检量限 (MultiCal) 扩展线性动态范围和对结果的自动确认

• 时间分辨信号 (TRS) 功能用于与色谱(如 HPLC)及其他分离技术相联系

• 常规校准程序适用于多元素外标分析法和标准加入法

• 重置斜率免除了重校标准曲线的烦琐

• 专为满足 US EPA 和其它国际标准设计的用户可编辑的质量控制方法 (QCP)

• wan全可编辑的样品标签列表,包括可选的用户标签和批标签

• 待测样品和校正样品/QC 溶液的重量/体积/稀释校正因子及用户自定义浓度单位的转换功能

• 自动进样器样品架和管位能够编辑,实现真正的随意进样

仪器性能

预热时间待机模式下从等离子点火开始的预热时间小于 10 分钟。

典型检测限

30 秒积分时间得到的 3σ 检测限(微克/升)

杂散光

通过阻板和光学设计消除杂散光,从而使 10000 毫克/升的钙中小于 2.0 毫克/升的有效砷信号能够在 188.980 纳米处检出。

信号稳定性

在无内标校正或任何形式的偏移校正的情况下,8 小时长时间稳定性 < 1% RSD。


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