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20Hz~2MHz介电常数测试仪
- 品牌:北京北广精仪
- 型号: GDAT-A
- 产地:北京 海淀区
- 供应商报价:¥20000
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北京北广精仪仪器设备有限公司
更新时间:2025-04-28 15:19:20
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销售范围售全国
入驻年限第10年
营业执照已审核
- 同类产品高频介电常数测试仪(134件)
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- 20Hz~2MHz介电常数测试仪 核心参数
产品特点
- 20Hz~2MHz介电常数测试仪1.Q值测量范围:2~1023
2.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;
3.电感测量范围:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能4.5nH-100mH 分别有0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH九个电感组成。 详细介绍
20Hz~2MHz介电常数测试仪Q值自动锁定,无需人工搜索
9.Q表正常工作条件
a. 环境温度:0℃~+40℃
b.相对湿度:<80%;c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
10.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。
复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分:电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势,取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下,电导损耗占优势:在高频下,主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗:在高频和低温下,主要是结构损耗,其损耗机理目前还不清楚,可能与结构的紧密程度有关。般来说,简单玻璃的损耗是很小的,这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列,结构紧密,没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加,并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后,使离子所在处点阵受到破坏,结构变得松散,离子活动性增大,造成电导损耗和松弛损耗增加。
陶瓷材料的损耗
功能介绍
1.自动停机:陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外,表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。
在结构紧密的陶瓷中,介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能,往往在配方中引人此易熔物质(如黏土),形成玻璃相,这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大,介质损耗也增大。因面一般高频瓷,如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大,主要的原因是:主晶相结构松散,生成了缺固济体、多品型转变等。
高分子材料的损耗
高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地,偶极矩在0~0.5D(德拜)范围内的是非极性高聚物;偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗,其介电常数约为2,介质损耗小于10-4;极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗,并且极性愈大,这两个值愈高。
高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向,因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子,虽然这种高聚物的极性很强,但只要固化比较完全,它的介质损耗就不高。相反,支化使分子链间作用力减弱,分子链活动能力增强,介电常数和介质损耗均增大。
高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能链段上偶极矩的取向极化,因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时,链段上的偶极的极化有时完全被,介电性能可降至低值,同样的道理,非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外,高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。
介质损耗(dielectric loss )指的是绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。
介质损耗因数(dielectric loss factor)指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M
试样破坏后,移动横梁自动停止移动(或自动返回初始位置
11.产品配置:
a.测试主机一台;
b.电感一套;
c.夹具一 套
20Hz~2MHz介电常数测试仪维修保养
本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备,所以在使用和保存时要避免振动和碰撞,要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存,不能自行拆装,否则其工作性能就不能保证,如测试夹具受到碰撞,或者作为定期检查,要检测以下几个指标:
1. 平板电容器二极片平行度不超过0.02mm。
2. 园筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
3. 保证二个测微杆0.01mm分辨率。
4. 用精密电容测量仪(±0.01pF分辨率)测量园筒电容器,电容呈线性率,从0~20mm,每隔1mm测试一点,要求符合工作特性要求。
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Q值范围 | 2~1023 | 频率范围 | 70MHZ |
电容范围 | 1~460pF |