一六仪器 XAD-200 全自动多功能 X 荧光光谱分析仪

XAD-200 是一款全元素上照式荧光光谱仪，既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的 膜厚性能，又可满足RoHS有害元素检测及成分分析，搭载全自动平台实现XYZ轴编程位移， 实现无人值守多点测量，测量软件置入先进的 EFP 算法及解谱技术，解决了诸多业界难题。

被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

1) 搭载微聚焦加强型 X 射线发生器和先进的光路转换聚焦系统，zui小测量面积达 0.03mm2

2) 拥有无损变焦检测技术，手动变焦功能，可对各种异形凹槽件进行无损检测，凹槽 深度范围 0-90mm

3) 核心 EFP 算法，可对多层多元素，包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数 据分析(钕铁硼磁铁上 Ni/Cu/Ni/FeNdB，精准检测第一层 Ni 和第三层 Ni 的厚度)

4) 配备全自动可编程移动平台，可实现无人值守，对成百上千个样品进行全自动检测 

5) 涂镀层分析范围:锂 Li(3)- 铀 U(92)
6) 成分分析范围:铝 Al(13)- 铀 U(92)
7) RoHS、卤素有害元素检测 

8)人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作

9) 标配四准直器自动切换

10) 配有微光聚集技术，zui近测距光斑扩散度小于 10%

工作条件 

工作温度:15°C-30°C 电源:交流 220V±5V

相对湿度:<70%，无结露 功率:120W(不含计算机)