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英国Jandel可调节高度自动探头(授权经销商)

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详细介绍

Jandel可调节高度的自动探头

Jandel工程有限公司提供了可调节高度探针台的自动Z运动(AFPP)用于进行四点探针测量。

AFPP可以用于测量各种各样的小样本大小薄层和300毫米晶圆锭250毫米高(厚的样品安置在请求)。

可以使用AFPP独立提供的电源适配器,或者可以动力和由Jandel RM3000使用单一铅连接这两个工具之间。



可测晶片直径

直径d≤300mm

可测晶片厚度

高度h≤250mm

自动停机

具有接触到样品的传感器(通过传感器检测接触到样品)

手动控制


远程控制

Jandel-RM300能够提供电源和样品接触


系统配置

组成部件(产品配置):

  1. 1. 测试台1个

  2. 2. AFPP主机1个

  3. 3. 可调节高度的轴杆1根

  4. 4. 四探针探头1个

  5. 5. 电缆线一根

设备尺寸

  1. 1. 可调节高度测试台:W×L×H(mm)320×370×8

  2. 2. AFPP主机:W×L×H(mm)64×215×67

  3. 3. 可调节高度轴杆:d(mm)19;L(mm)200(可定制最高额高度到1000mm)

型号

尖角(u)

压力(g)

间距(mm)

A

40

100

1

B

100

100

1

C

200

100

1

D

500

70

1

E

40

200

  1. 1.591

F

40

100

  1. 0.635

G

100

100

  1. 0.635

H

200

100

  1. 0.635

A-D型号和E-H型号



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