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无损检测用X射线平板探测器

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详细介绍

无损检测用X射线平板探测器


C7942CA-22是一款紧凑、重量轻的数字X射线成像传感器,用于作为无损检测、生物化学成像和X射线显微镜的关键器件,可以实时获取高分辨率、高清晰度的数字X射线图像。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息!
特性
- 2400 × 2400 pixels
- 12位数字输出
- 高速成像:2 frames/s(单次工作)
- 9 frames/s (4 × 4 binning)
- 低噪声,宽动态范围

详细参数

感光面积120 x 120 mm
像素尺寸50 x 50 μm
总像素个数2400 x 2400 pixels
闪烁体类型CsI闪烁体板
视频输出接口RS-422
帧速率(典型值)2 frames/s
动态范围(典型值)2000
X-ray分辨率(典型值)8 line pairs/mm
测试条件典型值,Ta=25 ℃

外形图(单位:mm)


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