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无损检测用X射线平板探测器
- 品牌：日本滨松
- 型号： C7942CA-22
- 产地：亚洲 日本
- 供应商报价：面议
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滨松光子学商贸（中国）有限公司
更新时间：2024-09-05 09:04:54 -
销售范围售全国
入驻年限第9年
营业执照已审核
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详细介绍
无损检测用X射线平板探测器
C7942CA-22是一款紧凑、重量轻的数字X射线成像传感器，用于作为无损检测、生物化学成像和X射线显微镜的关键器件，可以实时获取高分辨率、高清晰度的数字X射线图像。欢迎您登陆滨松ZG全新中文网站http://www.hamamatsu.com.cn/查看该产品更多详细信息！
特性
- 2400 × 2400 pixels
- 12位数字输出
- 高速成像：2 frames/s（单次工作）
- 9 frames/s (4 × 4 binning)
- 低噪声，宽动态范围详细参数
感光面积 120 x 120 mm 像素尺寸 50 x 50 μm 总像素个数 2400 x 2400 pixels 闪烁体类型 CsI闪烁体板 视频输出接口 RS-422 帧速率（典型值） 2 frames/s 动态范围（典型值） 2000 X-ray分辨率（典型值） 8 line pairs/mm 测试条件 典型值，Ta=25 ℃ 外形图（单位：mm）
沪公网安备 31011502008050号