广皓天两箱式高低温冲击试验箱PID自整定

技术参数

1、温度范围：-40℃～+150℃、-55℃～+150℃、、-65℃～+150℃ 　　

2、 温度上限：+175℃ 　　

3、 温度下限：-60℃ 　　

4、 温度偏差：±2℃ 　

5、 温度波动度：±0.5℃ 　　

6、 温度恢复时间：5min 　　

7、 温度恢复条件：高温+150℃保温≥30min，低温-60℃保温≥30min，试品重量在规定范围内 　　

8、 试品转移时间：≤15秒 　　

9、 试品转移方式：采用气动 　　

10、试品重量：≤3kg 　　

11、高温室升温时间：30min (+25℃～+100℃) 　　

12、低温室降温时间：60min (+25℃～-55℃) 　　

13、噪音：（dB）≤65 　　

14、电源：AC380V/50Hz+保护接地

特点:

◆此设备分为高温区、低温区两部分，测试产品置于提篮中，冲击时提篮将测试产品移进高温区或低温区进行冲击测试产品为动态式。

◆造型设计，并采用LC触摸 屏温湿度控制器，中英文界面，操作简易。冲击方式采用试验篮上下移动方式，将测试产品移进高温区或低温区进行冲击。

◆高温冲击或低温冲击时，大时间可达999H，大循环周期可达9999次。

◆冷热冲击移动时间在10秒内，可符合MIL、 IEC、JIs等 规范。

◆冷热冲击温度恢复时间在5分钟内，可符合相关试验规范。系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击。

◆采用HFC环保冷媒，二元超低温冷冻系统设计， 降温快、效率高，冷却方式为水冷式。不可以试验冲击常温

参照标准：
GJB 150.3A-2009 试验室环境试验方法 第3部分：高温试验
GJB 150.4A-2009 试验室环境试验方法 第3部分：低温试验
GJB 150.5a-2009 试验室环境试验方法 第3部分：温度冲击试验
GB/T2423.22-2012环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化
GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验_第2_部分：试验方法_试验A：低温
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验_第2_部分：试验方法_试验B：高温