SIRM红外体微缺陷分析仪

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品牌上海波铭产地上海浦东新区更新时间2026-01-08 13:19:39

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SIRM是非接触和非破坏型光学检测设备，对体微缺陷，如氧化物和金属沉淀，位错、堆垛层错，体材料中的滑线和空隙等进行测试。

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