测角仪可移动,可以测更大度数的2Θ角
对到晶格空间进行放大探测
采用双光束,有很大的灵活性
在IPDS II 的基础上进行拓展,可测2θ角最大值137°;
适用于铜反射和电子密度测量;
软件可用于数据收集和计算;
即使是比较复杂的样品(多域调制晶体),也能够提供有效的分析结论
支持DACs
规格参数:
尺寸:1680 x 880 x 2110mm;双仪器结构:2050 x 1260 x 2110mm
重量:420 kg; 双仪器结构:600kg
最大2θ =137°
测角仪:ω:180°,φ:360°
2θ:0°,5°,30°,45°,60°
探测器间距:40 - 200 mm (自动设定值)
最小d/?:0.30 Ag KA, 0.38 Mo KA,0.83 Cu KA
X射线源:密封管: Ag, Mo, Cu
微焦点源: Ag, Mo, Cu
成像板尺寸(活动区):340mm
噪音:因为无暗流,因此噪音很低
上传人:广州贝拓科学技术有限公司
大小:0 B
1203
报价:¥1000000
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