率先在世界采用375纳米紫外半导体激光
纳米和生命科学研究发展的一项重要的分析仪器。
10纳米检测下限
基于相同测量原理,对范围从10 nm 到 300 µm的粒子的持续变化的测量是可能的。确保全部测量范围的粒度分布测量精确,因为采用了无需切换的无断点光学系统。
测定时间最短1秒
由于极快的测定速度,所以以1秒为间隔连续观测粒子的分散或溶解反应过程是可能的,这些结果将被连续自动保存。粒子反应过程的统计处理和3D显示功能提供了便利的多层面分析和评估工具。(WingSALD-7101CM连续测量软件)
测量浓度从数ppm到20%
某些样品可能随着稀释粒度发生变化,对这样的样品不经稀释直接进行进行精确的分析可行的,通过搭配独特设计的高浓度样品测定系统,SALD可在未稀释溶液里或最小稀释之后进行测量。例如,可在几乎没有任何预先处理的情况下,直接测量手乳霜、面霜和冲洗液。
结合大量数据处理功能,操作性简便快速
为实现不同目的和处理需求,在软件上包含三种“wings”(子程序),操作简便快速,功能强大。
SALD-7101光学系统
从光源(半导体激光)发出的激光束通过准直镜转化为平行光束,照射在粒子样品上。样品产生的的前向的散射光宽度达到60∞度,通过镜头进行汇聚,将散射光投射在检测器平面上。呈同心圆形排列的翼装检测器检测衍射光的强度产生分析数据。散射光向侧面和向发散的部分,被侧面和后向的检测器检测。全向的检测器分布可以保证获得所有方向的检测散射光数据,保证不同粒径粒子的检测准确度。

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一台简洁小巧的装置能同时实现对纳米粒子三项参数的表征:粒径、Zeta电位和分子量。 纳米技术的研发是一个持续不断的过程,在分子和原子水平上控制物质以获得新、好、先进的材料和产品。为了得到效率高性能好的产品,并减少能量的消耗,HORIBA 推出了SZ-100V2纳米颗粒分析仪。此仪器通过简单操作即可对纳米颗粒进行多参数分析!
HORIBA LA-960V2激光粒径分布分析仪秉承HORIBA 一贯的以独创设计的传统,其直观的软件、附件和高效的性能,能解决广泛的应用问题。
Zetasizer Ultra 是用于测量颗粒与分子大小、颗粒电荷和颗粒浓度的系统,在结合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和优点的基础上,增加了多角度动态光散射技术(MADLS®),是 Zetasizer Advance 系列中Z智能和灵活的仪器。
Morphologi 4 是一个全自动静态图像分析系统,可测量干粉颗粒,混悬液和滤膜上颗粒的粒径和形貌。它旨在满足多学科研发实验室的多样化需求,是昂贵且耗时的手动显微镜的理想替代工具。由于完全自动化运行且数据分析简单,与手动方法相比,节约大量的时间。仅需简单标准化操作程序 (SOP) 的驱动操作,即可执行可靠的可重复测量。
Zetasizer Pro是一款功能强大、用途广泛的常规实验室测量解决方案,可测量颗粒粒度、分子大小、电泳迁移率、Zeta 电位和分子量。 与以往型号相比,其粒度测量速度超过以往的两倍,大大加快了样品处理速度。
Topsizer Plus激光粒度分析仪是继广受赞誉的Topsizer后,作为马尔文帕纳科的全资子公司,珠海欧美克仪器有限公司推出的又一款高端粒度分析仪器。
更多nCS1™特点: 不依赖于颗粒材料属性 高分辨率粒径分布 量程范围:50nm到10μm 任意多分散性 总样品分析在几分钟内 一次性微流控芯片 一次测试仅需3μL样品 适用领域: 蛋白质聚集物、病毒等 外泌体、微囊泡、脂质体、纳米乳 纳米药品、吸入剂、尾端大颗粒 血清中的生物标志物等 无机纳米颗粒:金/银、硅质衍生物、金属氧化物纳米颗粒等。
本标准物质可用于电子显微镜、不同原理的粒度测量仪,如激光衍射法粒度仪、动态光散射法粒度仪,以及不同原理的颗粒计数器粒径的检定/校准工作。