能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus

筛选分析的简单设定

      根据材质和元素设定阈值。根据阈值的输入方法来变更筛选分析的判定方式。阈值设定可依据根据材质的不同所显示的阈值下限。

在分析报告中如何表示分析结果“低于阈值”“灰色区域”“阈值范围内”，也可自定义设置。

分析报告的模版也可以设定。可在随机附带的模版中选择。

条件保护功能

通过输入密码可变更筛选分析条件和环境设定等各类设定条件，从而提高软件操作的安全性和保密性。

利用 [筛选分析] 画面、操作简单方便

操作简便，一个指令即可开始全自动测定。
测定条件的选择过去一直依赖操作者的判断，现在改由装置自动判断，即使初学者也可简便·高精度地测定。

放置样品

• 将样品放在分析位置，利用样品图像观察装置确认分析位置。

• 选择分析区域。

• 关闭样品室。

选择分析条件／输入样品名称

• 一个画面中可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。

• 点击开始。

显示分析结果

• 测定结束后，画面上将清楚显示5种元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（测定偏差）］。

• 点击即可显示［结果列表］或［创建报告书］。

从主成分判定到条件选择全部实现自动处理

只需1次点击，便可根据预先登录的分析条件，自动执行从测定到结果的一系列操作。

■ 校准曲线自动选择功能

标准配备了RoHS/ELY/无卤素分析所需的各种功能

EDX-LE Plus标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，就可以获得**RoHS/ELV/无卤素分析系统。

10mmφ图像（塑胶）

3mmφ（金属）

标准配置改变照射直径的准直器＆样品图像观察组件

测定异物或者测定包含多个部位的样品时，通过样品图像观察组件在观察样品的同时，可以简单的设定分析位置。测定小样品或样品中特定位置时，可以使用准直器，更改X射线照射区域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）

形状校正功能

即使含量相同的样品，在形状和厚度不同时，X射线强度将发生变化，得到的定量值也会受到影响，EDX-LE Plus通过使用BG内标法*，可以排除形状和厚度的影响，取得高精度结果。

※BG内标法
　通过散射X射线强度使各元素的X射线荧光强度标准化的一种校正方法。

测定结果列表管理

创建列表功能

已保存数据可以用Excel形式列表显示。

超丈样品室，可以直接测试大型样品

超大样品室可以对应各种样品形态及大小。

采用超大样品室

最大可以放置370mm长×320mm宽×155mm高的大型样品，令紧凑型机身望尘莫及。