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SM642背照式CCD光谱仪
- 品牌:立陶宛Ekspla
- 型号: SM642
- 产地:美国
- 供应商报价: 面议
- 上海尖丰光电技术有限公司
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企业性质
入驻年限第9年
营业执照
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- 详细介绍
SM642背照式CCD光谱仪(SM642 Back-thinned CCD spectrometer)
型号:SM642
商品简介:SM642是一款科研级,高性价比,高信噪比,高量子效率,低杂散光的光谱仪。是测量弱光源的。SM642采用Hamamatsu S10420-1106 背照式CCD,2048x64像素,具有较高的分辨率和灵敏度。SM642在紫外波段表现尤为出色,而且动态范围高。它可以提供850nm的测量范围。有效光谱测量范围:200-1050nm。
详细技术参数:
型号
SM642 Back-thinned CCD spectrometer
探测器
Hamamatsu S10420-1106背照式CCD
像素点: 2048 X 64
点像尺寸: 14μm x 14μm
像素井深: 200K e-
动态范围:33300
量子效率: >90% @650nm, 65% @250nm
焦比
3.3
暗噪声
<7 RMS计数点(积分时间为35ms)
信噪比
>450:1
光纤接口
SMA905或FC光纤耦合器
有效光谱测量范围
200-1050nm
分选滤波器
长通滤波器,线性可变滤波器,根据所需光谱范围选择
光谱分辨率
0.15-10nm(主要根据光栅和狭缝的选择)
杂散光
<0.01%@ 632nm(<0.05%平均)
电脑接口
USB1.1/2.0 16位500KHZ(最高可配置8通道)
最小积分时间
7ms
触发模式
自动运行
软件触发模式
外部出发模式(9针连接器):边沿触发输入/数字输出监控
狭缝
5, 10, 25, 50, 100, 200, 400μm
产品尺寸(CM)
20 H X 13 W X 7.3 D
产品重量
2.25kg
应用软件
SM32Pro
- 技术资料
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