三维偏振能量色散X射线荧光光谱仪

仪器简介：

随着全球经济的快速一体化,各种行业标准或商业标准应运而生,尤其是环境保护方面，ZG的第十一个五年计划加大了对环境保护方面的投入，一系列相关的环境标准对土壤、空气及水等介质中痕量重金属的分析要求越来越高,而传统的分析方法（如原子吸收等）由于样品制备复杂、某些元素的检出限达不到标准要求而导致分析速度和结果已远远不能满足环保行业的要求。为了满足全球对这类分析要求的需要,全球专业级X射线生产制造商帕纳科公司最近向市场推出了用于环境分析的ding级能量色散X射线荧光光谱仪Epsilon5.该仪器采用了一系列zuixin的、帕纳科光管功率可达600W,X光管最高管压可达100KV。）使其成为目前世界上最ding级的能量色散X射线荧光光谱仪。 该仪器有两大特点：制样简单，可以直接对固体、液体、粉末等进行分析，与传统的ICP、AAS分析方法相比，无须对样品进行前处理，大大提高了分析速度；重金属元素的检出限可以降低到亚ppm级,使其满足全球的任何标准都没有问题(如EPAIO-3.3、Weee&RoHS、ELVEN71等),并且将来标准进一步提高,也无需增加任何投资即可满足，一次投资,一步到位。

技术参数：

分析元素范围：Na（11）－U（92）
激发电压：最大100kV
X光管功率：600W
二次靶: 最多可安装15个
探测器: 超大面积高纯Ge
分辨率: <135ev

主要特点：

ZLGd靶材采用稀土元素钆Gd为靶材，对于重元素的K系线激发效率非常高.

独有600W高压发生器工作电压可达100kV，可以测量重金属的K线，从而使重金属的灵敏度大大提高。(传统的能谱仪和现有的波长色散型都只能测量重金属的L线,而K线的强度要比L线的强度高一个数量级)

三维偏振技术利用三维偏振激发源，X射线管、偏振靶或二次靶与试样的几何布局是三维，使用偏振光或二次靶激发样品，提高了激发效率并大大降低了原级谱背景，从而降低了谱仪检出限。

二次靶技术根据待测元素及试样的组成，选择**的二次靶用作激发源，谱仪可提供多达15个二次靶(标准9个)。

滤光片进一步降低检出限，可有多达5种供选择。

独有Ge探测器PAN-32其超大探测面积30mm2和5mm厚度，检测X射线能量范围宽达0.7-100 keV，分辨率小于140eV,最大计数达到创记录200,000cps。其在原子序数20(Sc)到92(U)达到100%的转换效率。在高能量区(17keV以上)，其分辨率优于波长色散的晶体如LiF200的分辨率。