产品简介
要了解并优化各种温度和压力条件下的化学反应,化学家和化学工程师需要深入的反应信息。 传统中,此数据通过离线技术获得,需要采样和样品制备,因此不能真实表征反应组分。 ReactIR 45m 是一个基于中红外线的实时原位系统,用于监控反应化学,可以在实际反应条件下跟踪反应物、产物和中间产物。 ReactIR 45m 无需离线采样,有助于更快地开发安全稳定的工艺。
不同的采样技术可实现在各种条件下,其中包括高低温和高压,对反应的监控。 化学反应包括:
氢化
羰基化/氢甲酰化
光 气(碳酰氯)化学
有机锂化学
叠氮化物化学
-这些都不适合离线采样。
技术参数
| 适用于 | 实验室 |
| 软件 | iC IR |
| 检测器 | LN2 MCT |
| 光谱范围(主机) | 4000 – 650 cm-1 |
| 吹扫要求 | 是 |
| 尺寸 (宽x高) | 216 mm x 381 mm |
| 尺寸 | 279 mm |
| 重量 | 16 kg |
| 通信 | USB 电缆 |
| 分辨率 | 4 cm -1 最大 |
| 样品温度 | 19 °C – 25 °C |
| 探头光学窗口 | 2500 - 650 cm-1 (光纤探头); 4000 - 650 cm-1 (Sentinel探头) |
| 液接材质 | 哈氏合金 C-22; 金刚石或硅; 黄金 |
| 探头压力(最大值) | 107bar (Sentinel探头); 69bar (6.3 & 9.5mm 光纤探头) |
| 探头温度(最大值) | 180°C (光纤探头); 200 °C (Sentinel探头) |
| 安全认证 | EMC 指令 2004/109/EC,低电压指令 2006/95/IEC |
| 探头PH范围 | 1 – 14 (金刚石探头); 1 - 9 (硅探头) |
| 物料号 (s) | 14170003 |
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已咨询2387次红外光谱(IR、傅立叶)
在处理宝贵的试剂之前,先验证移液器的性能,可节省时间和成本。 根据法规的要求,要确定移液器是否符合允差范围,需要花费较长的时间,且花费较高预算。 使用SmartCheck™,只需不到60秒的时间,即可知道移液器能否正常吸液和排液。
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每次均得有效结果. XPR分析天平、320 g量程、0.05 mg可读性、7''电容彩色触摸屏、用户管理、静电检测、自动内部校正且配有LabX 一次即准的结果 集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用,确保各项条件处于**状态,获得正确的称量结果。 StaticDetect 由于具备StaticDetectZL功能,XPR微量天平和分析天平可检测样品和容器的静电放电。 随时可进行审核 将XPR分析天平连接至LabX软件,为法规遵从和数据完整性提供全面支持。
每次均得有效结果. XPR分析天平、41/120 g量程、0.01/0.1 mg可读性、7''电容彩色触摸屏、用户管理、静电检测、自动内部校正且配有LabX 一次即准的结果 集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved协同作用,确保各项条件处于**状态,获得正确的称量结果。 StaticDetect 由于具备StaticDetectZL功能,XPR微量天平和分析天平可检测样品和容器的静电放电。 随时可进行审核 将XPR分析天平连接至LabX软件,为法规遵从和数据完整性提供全面支持。
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