| 高低温真空探针台 | ||||
| 型号 | SCG-O-2 | SCG-O-4 | SCG--C-2 | |
| 外形 | 900*900*530mm | 1100*1100*530mm | 1100*1100*1030mm | |
| 重量 | 约170KG | 约190KG | 约290KG | |
| 电力需求 | AC220V,50~60HZ | |||
| 样品台 | 尺寸 | 2英寸 | 4英寸 | 2英寸 |
| 样品固定方式 | 真空导热硅脂/弹簧压片 | |||
| 样品台移动 | 固定的样品台 | |||
| 真空度 | 10^-10torr最高真空 | |||
| 光学特性 | 显微镜行程 | 2*2英寸 | 4*4英寸 | 2*2英寸 |
| 放大倍数 | 变焦：7:1分辨率4μm (放大倍数216X)或者选用金像显微镜（20X~1000X） | |||
| 真空腔观察窗尺寸 | 2inch | 4inch | 2inch | |
| CCD像素 | 50W（模拟）/200W（数字）/500W（数字） | |||
| 温控规格 | 制冷方式 | 液氮/液氦 | 制冷压缩机 | |
| 控制方式 | 开循环手动/自动冷媒流量控制 | 闭循环自动控制 | ||
| 控温范围 | 77K~450K/4.2K~450K | 4.2K~450K | ||
| 控温分辨率 | 0.001K | |||
| 温度稳定性 | 4.2K ±0.2K 77K ±0.1K | |||
| 373K ±0.08K 473K ±0.1K | ||||
| 823K ±0.2K(可选） 973K ±1.0K(可选） | ||||
| 常温到8K冷却时间 | 90min | 150min | ||
| 8K到常温升温时间 | 90min | 90min | ||
| 常温开始的升温时间 | 100℃ 150℃ 200℃ | |||
| 30min 50min 80min | ||||
| 加热电源 | LVDC 低压直流 | |||
| 传感器 | 硅二极管 | |||
| 传感器数量 | 样品台，防辐射屏，探针臂各一个 | |||
| 功率 | 50W/100W/500W/1000W | |||
| 点针规格 | 探针数量 | 2个/4个/6个 | ||
| 探针调节 | 真空波纹管外部调节，手动控制 | |||
| 点针精度 | 10微米/2微米/0.7微米 | |||
| X-Y-Z行程 | 25mm-25mm-25mm | |||
| 漏电精度 | 10pA/100fA | |||
| 接口形式 | 三轴/SMA/K/光纤接口 | |||
| 可选附件 | 防震桌 | |||
| 多级压缩制冷机 | ||||
| 机械泵/分子泵组/离子泵 | ||||
| 射频部件 | ||||
| Chuck运动装置 | ||||
| 电磁铁系统/超导磁铁系统 | ||||
| 1Mpa正压系统升级 | ||||
| 超高温升级选件 | ||||
| 超高真空升级选件 | ||||
| 客户特殊定制 | ||||
| 应用方向 | 高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等 | |||
| 特点 | ||||
| 可进行真空环境下的高低温测试（4.2K~450K） | 可升级加载磁场 | |||
| 防辐射屏设计，样品温度均匀性更好 | 支持光纤光谱特性测试 | |||
| 兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 | 器件的高频特性(支持最高67GHz频率) | |||
| 探针热沉设计 | LD/LED/PD的光强/波长测试 | |||
| 自动流量控制 | 材料/器件的IV/CV特性测试 | |||
报价：￥1
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报价：面议
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已咨询73次高低温低气压试验箱
报价：￥1
已咨询936次半/全自动探针台
超高的测试精度，效率和稳定性 便捷的仪器接入 多倍率同时显示光学系统 可升级大功率晶圆测试 (-60~200℃)超低噪声高低温Chuck 可升级射频测试 功能丰富的测试软件 可升级全自动测试
Si/SiC/GaN等晶圆测试 超高的测试精度和测试效率 大功率晶圆测试 便捷的仪器接入 （-80~200℃）高低温Chuck 半自动测试 20~4000X光学显微放大 可升级全自动测试 功能丰富的测试软件 可升级射频测试
可进行真空环境下的高低温测试（4.2K~450K） 可升级加载磁场 防辐射屏设计，样品温度均匀性更好 支持光纤光谱特性测试 兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 器件的高频特性(支持zui高67GHz频率) 探针热沉设计 LD/LED/PD的光强/波长测试 自动流量控制 材料/器件的IV/CV特性测试
非真空环境下的低温测试，可达-100℃ 大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计 兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 0.2微米以上芯片内部线路/电极/PAD测试 高等院校/研究所/公司实验室使用 LD/LED/PD的光强/波长测试 zuida可用于12英寸以内样品测试 材料/器件的IV/CV特性测试 同轴丝杠传动结构，线性移动 器件的高频特性(支持zui高至300GHz频率)
业界zui快的测试速度 超高的测试精度 稳定的测试结果 mult-probe card设计 0.1um精度的直线电机平台 自动清针，自动测针 极小的针痕损伤 全自动测试
稳定的结构 同轴丝杠传动结构，线性移动 针座平台可快速升降和微调，适合针卡测试 大手柄驱动，操作舒适，无回程差设计 兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 芯片内部线路/电极/PAD测试 高等院校/研究所/公司实验室使用 LD/LED/PD的光强/波长测试 zuida可用于12英寸以内样品测试 材料/器件的IV/CV特性测试
紧凑的结构 同轴丝杠传动结构，线性移动 实惠的价格 无回程差设计 兼容高倍率金相显微镜，可微调移动 1微米以上电极/PAD测试 高等院校/研究所/公司实验室使用 LD/LED/PD的光强/波长测试 zuida可用于12英寸以内样品测试 材料/器件的IV/CV特性测试
小型分析探针台
营业执照已审核
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沪公网安备 31011502008050号