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高分辨率晶圆测试探针台

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详细介绍


高分辨率晶圆测试探针台a.png产品特性

 1. 紧凑的结构

2. 兼容高倍率金相显微镜,可微调移动

3. 高等院校/研究所/工业用户实验室使用

4. 最大可用于12英寸以内样品测试

5. 精密丝杠传动结构,线性移动

6. 无回程差设计

7. 1微米以上电极/PAD测试

8. VCSEL/LD/LED/PD的光谱波长/光功率测试

9. VCSEL/LD/LED/PD LIV特性测试

10. 器件的高频特性测试(最高至300GHz频率)



主要技术指标

型号

LS-WPS100-SE

LS-WPS150-SE

LS-WPS200-SE

LS-WPS300-SE

外形

580mm长*

620mm宽*

730mm高

600mm长*

700mm宽*

730mm高

660mm长*

660mm宽*

700mm高

1030mm长*

820mm宽*

730mm高

重量

70公斤

80公斤

85公斤

约180公斤

电力需求

220VC, 50~60Hz

样品台

尺寸

4英寸,可360度旋转

6英寸,可360度旋转

8英寸,可360度旋转

12英寸,可360度旋转

X-Y行程

4*4英寸

6*6英寸

8*8英寸

12*12英寸

Z轴行程

6mm(快速切换)/6mm(微调)

移动精度

10um/1um

样品固定方式

真空吸附

背电极测试功能

有,样品台电学独立悬空

针座平台

U型平台,最多可放置6个针座

U型平台,最多可放置8个针座

U型平台,最多可放置10个针座

U型平台,最多可放置12个针座

光学特性

显微镜行程

X-Y轴行程2英寸*2英寸,Z轴:50.8mm

显微镜移动精度

1um

切换镜头方式

显微镜快速倾仰30

放大倍数

16~100X/20~4000X

镜头规格

目镜:10X;物镜:5X,10X,20X,50X,100X(选配)

CCD像素

50W(模拟)/200W(数字)/500W(数字)

点针规格

X-Y-Z行程

12mm-12mm-12mm/8mm-8mm-8mm

机械精度

10微米/2微米/0.7微米/0.1微米

漏电精度

10pA/100fA(配置屏蔽箱时)

接口形式

香蕉头/鳄鱼夹/同轴/叁轴接口

应用方向

VCSEL芯片及LD/LED/PD测试,PCB/封装器件测试,射频测试等。




产品优势
紧凑的结构;兼容高倍率金相显微镜,可微调移动;高等院校/研究所/工业用户实验室使用;zuida可用于12英寸以内样品测试;精密丝杠传动结构,线性移动;无回程差设计;1微米以上电极/PAD测试;VCSEL/LD/LED/PD的光谱波长/光功率测试;VCSEL/LD/LED/PD 的LIV特性测试;器件的高频特性测试(zui高至300GHz频率)
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