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半导体测试探针台:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S

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详细介绍

半导体测试探针台:KUP007,EMP100C,EMP100B,EMP50S

 

Model::KUP007

特点:

* x y z 15 mm-19mm-19mm

*分辨率:5微米

*线性运动

 

   

 

磁铁底座/off-control(选项)

探索倾向

提示夹螺丝

 

 

同轴刀头固定螺钉

同轴端座管

三轴端固定螺钉

三轴端托管

(低泄漏电流<100fA)

射频臂(W/E或N/S)

 

 

8寸雷射修补变温(负)探针量测系统

 

 

高温高湿真空气体照光Bending 可靠度量系统:

  

 

 

低成本探针台:

 

 

4英寸探针台:

   

                             EMP100C                                                                       EMP100B

 

C 型探针台 Model:EMP50S

 

 

测量解决方案系统

 

EMP100C 探针台


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