半导体微纳检测仪

韩国Ecopia 全自动变温霍尔效应测试仪 HMS-5300LTH,温度范围：80k-573k,测量材料Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(inclu...

韩ECOPIA 变温光霍尔效应测试仪 HMS-7000，可以通过改变照射在样品上的不同波长范围的光源（红、绿、蓝光源）， 得出载流子浓度、迁移率、电阻率及霍尔系数等半导体电学重要参数随光源强度变化的...

德国YXLON 定制化的紧凑型标准X射线检测系统COUGAR-EVO ，专为封装检测、半导体及实验室应用量身定制

德国YXLON 定制化的标准X射线检测系统CHEETAH EVO，专为封装检测、半导体及实验室应用量身定制、

德Zeiss 电子束直写仪 Sigma SEM，利用曝光抗蚀剂，采用电子束直接曝光，可在各种衬底材料表面直写各种图形，图形结构（最小线宽为10nm），是研究材料在低维度、小尺寸下量子行为的重要工具。广...

德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM：Crossbeam 350,Crossbean 550,标准样品仓有18个扩展接口。

德国Zeiss 场发射电子显微镜SIGMA 300，专利Gemini镜筒，超高的束流稳定性，卓越的低电压性能，In Lens 探测器，磁性材料高分辨观察，顶级X射线分析设计，便越操作系统设计，超大空间...

ZEISS 高分辨电子扫描显微镜-EVO 10,具备自动化工作流程的高清晰扫描电镜，提高样品的成像分辨率，提供更多表面细节信息，EVO 电镜广泛应用于材料和生命科学领域。

日本JEOL产生高密度等离子体的内置型等离子源 BS-80011BPG，安装在真空室内产生高密度等离子体的等离子体源。利用和真空蒸镀结合的等离子体辅助沉积技术（离子镀），能提高光学薄膜、保护膜、功能膜...

日本电子JEOL大功率电子枪・电源EBG-300UA，JEBG-1000UB，JEBG-3000UB，是用来在真空中蒸发或熔解金属及氧化物的大功率电子束发生源，能在宽幅塑料及大面积玻璃基板上持续、高速...

JEOL 粉末供应装置TP-99010FDR，用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。

日本JEOL电子自旋共振谱仪 JES-X310，X320，经过进一步改良低噪音耿氏振荡器，达到了极高的灵敏度。由于人们已经认识到样品中极少量的未成对电子会在很大程度上左右着材料的性能，因此对ESR的测...

日本JEOL核磁共振谱仪JNM-ECZR 系列 ，是高度结合了最新数字技术和高频技术研制的脉冲傅里叶变换核磁共振仪。电路的高度集成化提高了谱仪的可靠性、实现了机体的小型化，谱仪对多通道操作、高功率放大...

日本JEOL JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法・检量线法）、RoHS元素筛选功能等。利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更...

日本JEOL 双束加工观察系统 JIB-4700F ，该设备的SEM镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、GB模式和in-lens检测器系统，在1kV低加速电压下,实现了1.6nm的保证分辨率,与最大能获得...

日本JEOL电子探针显微分析仪JXA-iHP100 ，可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。