德国 IPI 气泡分析系统GIA 522
德国ThetaMetrisis FR-ES精简薄膜厚度测量特性分析系统
FR-Scanner自动化超高速精准薄膜厚度测量仪
德国ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚测量仪
德国ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚测量仪
德国 IPI GIA 522气泡分析系统
GIA 522 Gas inclusion analysis System

GIA 522气泡分析系统用于分析玻璃、陶瓷、矿物或小型密封电子元件中的小到极小气泡夹杂物。
GIA 522 gas inclusion analysis system was developed to analyse small to extremely small gas inclusion in technical glasses, ceramics, minerals or small hermetically sealed electronic components.
技术指标
Technical data
质量范围:1-512amu
Mass range: 1-512amu
检测器:90°off-axis 二次电子倍增器
Detector: 90°off-axis OFF SEM
高灵敏离子源
High sensitivity ion source
重量:约600kg
Weight: approx. 600 kg
尺寸(mm):
Dimensions (mm):

•具有优良的气泡性能分析能力
Blister analysis with unmatched performance
•检测极限 (基本灵敏度):< 10 vppm
Limit of detection(basic sensitivity) : < 10 vppm
•气泡尺寸:5.0 to 0.05 mm
Bubble size 5.0 to 0.05 mm
•检测限<1皮升
Detection limit<1 picolitre
•高动态测量范围(6-7个十进制)
High dynamic measurement range(6-7 decades)
•测试结果全自动数据分析
Fully automated data analysis
•拥有超过 10,000 次分析的内部数据库
Internal database for more than 10.000 analyses
•自动破片装置(选配)
Automatic breaking device(optional accessory)
•用于 8 至 30 个样品的不同样品架
Different sample holders for 8 to 30 samples

报价:面议
已咨询124次德国IPI水汽分析 仪
报价:面议
已咨询138次半导体微纳检测仪
报价:面议
已咨询6963次凝胶成像分析系统
报价:面议
已咨询3944次凝胶成像分析系统
报价:面议
已咨询365次流体力学
报价:¥845
已咨询79次标准物质
报价:面议
已咨询1793次
报价:面议
已咨询2487次凝胶成像分析系统
IXION 193 SLM 是一款单频全固态激光系统,适用于光学计量、193 nm 步进光学元件校准或高功率 ArF 准分子激光器的带宽控制等应用。
IXION 193 SLM 是一款单频全固态激光系统,适用于光学计量、193 nm 步进光学元件校准或高功率 ArF 准分子激光器的带宽控制等应用。
ASML 光刻机 Twinscan NXT:1980Di
Syskey 紧凑式溅射系统 Compact Sputter,灵活的基板尺寸,最大可达6英寸,基板架加热温度最高可达500℃,出色的薄膜均匀性,误差小于±3%, 最多可配备5个6英寸磁控溅射源(可选配3或4个),支持射频、直流或脉冲直流电源,最多可支持3条气体管路,支持顺序沉积和共沉积。
Syskey 紧凑式热蒸发系统 Compact Thermal ,灵活的基板尺寸,最大可达6英寸, 基板架加热温度最高可达500℃,出色的薄膜均匀性,误差小于±3%,可选配电子束或热舟蒸发源(最多3个),速率控制沉积,可沉积多层薄膜,选用特定目标材料
高真空溅射系统 HV Sputter,灵活的基板尺寸,最大可达12英寸或200×200毫米, 基板架加热温度最高可达800℃,出色的薄膜均匀性,误差小于±3%
超高真空磁控溅射镀膜机 UHV Sputter,• 基板支架加热至 800 °C • 优异的薄膜均匀性小于 ±3% • 磁控溅射源(数量最多 8 个),可选强磁版本
Syskey 高真空热蒸发镀膜机HV Thermal 高真空热蒸发系统可提供的真空环境 用于常见薄膜沉积,包括金属、有机物、钙钛矿和化合物。全自动系统可满足各种应用要求,包括OLED、OPV、OPD等。