德国Sentech 光伏测量仪器

MDPspot灵活的自动扫描系统 具有成本效益的台式少子寿命测试仪MDPspot可用于表征晶片或面。它为少子寿命测量提供了一个测量点。

灵活的自动扫描系统MDPmap 离线工具MDPmap是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度，从非常短的脉冲(100ns...

MDPpro激动扫描系统，用于对电特性进行分析，在四分钟的测量时间内，对1毫米分辨率，500毫米砖砖(或晶片)自动扫描。进行完全非接触测量。

MDPinlinescan在线寿命和电阻率逐行扫描仪 优势 。在µ-PCD或稳态激发条件下测量少子寿命和电阻率线扫描是该仪器设计的ZD。 。集成OEM单元的生产，用于多晶或单晶硅晶片在不同...

MDPinline ingot 光伏测量仪器，快速自动扫描系统

MDPinline 光伏测量仪器，一秒内完成正片晶片扫描

薄膜反射和透射的在线监测系统 RT Inline 反射率、透射率和膜厚的高速在线测量是RT Inline的设计特点。传感器头阵列扫描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作为内部参考测量。利用...

自动扫描薄膜测量仪器SenSol，是SENTECH光伏产品组合中的自动大面积扫描仪器。自动表征膜厚、薄层电阻、雾度、反射和透射的均匀性。使用SenSol，可以监测大型玻璃基板上的沉积过程的均匀性，从而...

SENperc PV光伏测量仪 是PERC电池制造质量控制的创新解决方案。SENperc PV 测量Al2O3/SiNx堆叠层和用于钝化PERC电池的单层膜。监测沉积过程的稳定性。由此，可以优化维护时...