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深圳市蓝星宇电子科技有限公司
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美国KLA InSEM HT原位高温纳米力学测试系统，纳米压痕仪，样品加温可达800 ℃，样品尺寸可达10MM，装样系统与真空环境兼容
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G200型纳米压痕仪价格：面议- 品牌：美国KLA
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广受赞誉的高速测试选项可以和所有G200 型纳米压痕仪配合使用, 包括DCMII 和 XP 模块以及样品台； 快速进行面积函数和框架刚度校对； 精确和可重复的结果, 完全符合ISO14577 标准...
美国KLA
KLA-Tencor成立于1975年，位于美国加利福尼亚州的米尔皮塔斯，致力于半导体（芯片）设备领域的探索。产品主要有芯片缺陷检测仪、芯片量测仪、实时等离子蚀刻晶圆温度测量系统、套刻量测系统、表面轮廓仪、纳米机械测试仪、芯片封装设备等，产品广泛应用于半导体产品研发、设计、制造、检测等领域。
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