日本电子/JEOL

日本JEOL产生高密度等离子体的内置型等离子源 BS-80011BPG，安装在真空室内产生高密度等离子体的等离子体源。利用和真空蒸镀结合的等离子体辅助沉积技术（离子镀），能提高光学薄膜、保护膜、功能膜...

日本电子JEOL大功率电子枪・电源EBG-300UA，JEBG-1000UB，JEBG-3000UB，是用来在真空中蒸发或熔解金属及氧化物的大功率电子束发生源，能在宽幅塑料及大面积玻璃基板上持续、高速...

JEOL 粉末供应装置TP-99010FDR，用气体通过管道定量输送粉末的送粉器。

日本JEOL电子自旋共振谱仪 JES-X310，X320，经过进一步改良低噪音耿氏振荡器，达到了极高的灵敏度。由于人们已经认识到样品中极少量的未成对电子会在很大程度上左右着材料的性能，因此对ESR的测...

日本JEOL核磁共振谱仪JNM-ECZR 系列 ，是高度结合了最新数字技术和高频技术研制的脉冲傅里叶变换核磁共振仪。电路的高度集成化提高了谱仪的可靠性、实现了机体的小型化，谱仪对多通道操作、高功率放大...

日本JEOL JSX-1000S型X射线荧光光谱仪采用触控屏操作、提供更加简便迅速的元素分析。具备常规定性、定量分析（FP法・检量线法）、RoHS元素筛选功能等。利用丰富的硬件/软件选配件、还能进行更...

日本JEOL 双束加工观察系统 JIB-4700F ，该设备的SEM镜筒中采用了超级混合圆锥形物镜、GB模式和in-lens检测器系统，在1kV低加速电压下,实现了1.6nm的保证分辨率,与最大能获得...

日本JEOL电子探针显微分析仪JXA-iHP100 ，可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。

日本JEOL 软X射线分析谱仪，(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通过组合新开发的衍射光栅和高灵敏度Ｘ射线CCD相机，实现了极高的能量分辨率。 和EDS一...

JEOL截面样品抛光仪IB-19520CCP ，在加工过程中利用液氮冷却，能减轻离子束对样品造成的热损伤。冷却持续时间长、液氮消耗少的构造设计。在装有液氮的情况下，也能将样品快速冷却、恢复到室温，并且...

日本JEOL 截面样品抛光仪 IB-19530CP，采用多用途样品台，通过交换各种功能性样品座实现了功能的多样化。根据需要可以选择不同的功能性样品座，不仅能截面刻蚀，还可以进行平面刻蚀、离子束溅射镀膜...

日本JEOL 聚焦离子束加工观察系统 JIB-4000 ，配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研磨，沉积碳和钨等材料。还可以为...

日本JEOL 离子切片仪 EM-09100IS，用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度（0...

JEOL 低温冷冻离子切片仪 IB-09060CIS，易受热损伤的样品，也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长，有效地抑制了热损伤。

JEOL 热场发射扫描电子显微镜 JSM-7200F ，应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配了TTLS系统（Through-The-Lens Syst...

日本JEOL 扫描电子显微镜 JSM-IT500 ，是JEOL InTouchScope系列的新机型。 从设定视野到生成报告，用于分析的软件整合于一体，加快了作业速度！是一款无缝操作，使用更加方便的扫...