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仪器网>产品中心> 上海复享光学股份有限公司>光谱测量支架>R3 反射光谱测量系统

R3 反射光谱测量系统

面议 (具体成交价以合同协议为准)
复享 R3 上海 杨浦区 2026-01-24 15:11:12
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产品详情:

R3 反射光谱测量系统
多角度反射率光谱测量

反射是光谱测量的基本手段,实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取较好的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。

复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器,可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源,具备高灵活性和强实用性。 
      
百种组合,随想而生
                                                                                            百种组合,随想而生
参数.jpg      

注:以上参数如有差异,以**为准。


技术资料

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上海复享光学股份有限公司为你提供R3 反射光谱测量系统信息大全,包括R3 反射光谱测量系统价格、型号、参数、图片等信息;如想了解更多产品相关详情,烦请致电详谈或在线留言!
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