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R3 反射光谱测量系统
- 品牌:复享
- 型号: R3
- 产地:上海 杨浦区
- 供应商报价:面议
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上海复享光学股份有限公司
更新时间:2023-11-06 14:17:19
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销售范围售全国
入驻年限第10年
营业执照已审核
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R3 反射光谱测量系统
多角度反射率光谱测量反射是光谱测量的基本手段,实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取较好的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。复享光学为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器,可以搭建个性化的光谱测量系统。复享光学 R3 反射光谱测量系统可以配置 1 个或者 2 个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。R3 光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源,具备高灵活性和强实用性。
百种组合,随想而生注:以上参数如有差异,以**为准。
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