镀层行业现状概述
镀层是一种用金属在表面沉积的工艺,已有数百年的历史,被广泛应用于轻工业、电子电气、机械等行业,现已成为了社会发展中必不可少的基础工艺。随着工业经济对镀层技术的需求日期增加,对电镀层的质量也有了更严格的要求。这也要求对电镀制品的检查方法和评判技术,需要在时间、方法等方面更加有效率。
镀层质量检查的内容因零件和镀层而异,但其中镀层的厚度是镀件品质的最重要保证因素。相比于传统的阳极溶解库仑法、金相法、溶解称重法、液流法、点滴法等镀层测量方法,XRF技术因为其无损、快速、可靠等优点,是镀层厚度测量领域中最常见和的方法之一。
产品简介
TrueX COAT镀层测厚仪是苏州浪声科学仪器有限公司凭借多年XRF技术研发经验,融合镀层市场需求,设计岀的一款性能好的手持式XRF仪器。 TrueX COAT适用于镀层厚度测量及材料分析,具有无损,可靠,高生产力,高灵活性等优点,可用来定性分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统的厚度测量,广泛应用于电路板、半导体、电镀、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等工业中的功能性镀层电镀槽液中的成分浓度分析。
产品特性
一键智能操作
“开机启动—瞄准测试—查看结果”,整个分析过程仅需数秒便可完成,操作简单,即使非技术人员也可轻松掌握。
轻松自定义
在测试基础上,提供多种自定义设置,可以根据检测需要变更测试条件,也可根据筛选需要变更阈值,实现对不同材料、不同元素的个性化筛选。
多形式的数据输出
可以以PDF格式或者Excel格式制作分析数据报告。使用Excel格式导出数据时,还可在表格中对数据进行详细确认和编辑。用户还可自定义创建专业报告:包括公司标志、公司地址、检测结果、光谱谱图及其他样品信息(如产品描述、产地、批号等)。
完善的安全防护
在测量过程中,仪器左右两侧辐射指示灯自动呼吸闪烁,内置DoubleBeam™ 技术自动感知仪器前方有无样品,提高射线的安全性和防护等级。
准确可靠的定性定量方法
集成了浪声前沿的Super-FP算法、校正曲线法等先进算法,使得仪器不仅测量速度更快,测量准确性更高,测量一致性更强。
高品质进口探测器
仪器选用适合于多元素镀层的分析进口探测器,噪音小,可灵活地应对未来镀层结构。
报价:面议
已咨询5691次TrueX COAT镀层分析仪
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已咨询5691次TrueX COAT镀层分析仪
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已咨询5846次便携式X射线荧光(HHXRF)
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已咨询6265次便携式X射线荧光(HHXRF)
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已咨询37次物性分析常用仪器
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已咨询1052次ScopeX PILOT镀层测厚仪
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已咨询1353次INSIGHT系列(桌面式)
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已咨询687次大光谱X射线荧光(XRF)
报价:面议
已咨询797次大光谱X射线荧光(XRF)
传统的“人工取样+实验室分析”方式存在诸多弊端,例如响应速度慢、分析误差大、人工作业强度高以及难以实时反馈等问题,开发和应用更先进的在线监测技术,以实现对工艺液成分的实时、快速、准确检测。
10米水深作业,突破空间限制,精准高效,多场景应用,助力水下元素分析
创新融合便携设计与真空技术,打破传统检测的空间限制,无需复杂的前期准备,即可迅速投入检测。能在短时间内完成分析工作,大大提高工作效率,是现场快速检测的理想之选。
专为封装行业设计的高精度测量设备。其采用XRF无损检测技术,能够精准测量铝塑膜R角区域的铝层厚度(10~90μm),广泛应用于铝塑膜厚度分析、电池外包铝塑膜冲坑形变后的厚度检测以及超薄不锈钢膜片厚度分析等场景。
LIBS 5000在线激光诱导击穿光谱仪是一款专为液体成分检测打造的智能化分析设备,以激光诱导击穿光谱(LIBS)技术为核心,实现对液体中微量元素的精准量化监测。设备采用一体化集成设计,将耐腐蚀性检测探头与智能控制终端深度融合,搭配远程云端数据管理平台,可在强腐蚀、高盐度、复杂流动环境下稳定运行。针对卤水、熔体等液体样品,该分析仪采用非接触式光谱激发技术,无需样品前处理即可快速完成关键元素的定性定
LIBS 3000在线激光诱导击穿光谱仪是一款高端的工业过程分析设备,专为实时监测和控制材料成分而设计。 其采用激光诱导击穿光谱(LIBS)技术,集检测探头和控制机柜于一体,内置检测距离自动控制,粉尘烟气防护,温度自动调节,本地/远程一键操作等功能,能够对各种固体、粉末等样本进行非接触式、非破坏性的快速成分分析,具有分析速度快、灵敏度高、重复性优异、ppm量级探测灵敏度等特点,成为金属、矿石等行
激光诱导击穿光谱(LIBS)技术是一种激光烧蚀分析技术,它是将激光聚焦到样品表面,当激光脉冲的能量密度大于击穿阈值能量时,就会在样品局部产生等离子体,随着外界膨胀逐渐冷却,并发射出表征样品组分信息的光谱,然后通过高分辨率光谱仪来对光谱进行收集,是一种快速定性及定量的工业分析技术。
浪声SuperSEM桌面式多功能实时能谱扫描电镜,搭载先进的电子光学系统,集SEM与EDS技术于一身,可轻松实现样品表面结构与化学元素的深度分析。此外,还配备三轴样品台、光学导航等高端硬件,确保了仪器