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SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪
- 品牌:Phasics
- 型号: SID4-SWIR-HR
- 产地:欧洲 法国
- 供应商报价:面议
- 上海屹持光电技术有限公司 更新时间:2024-09-12 16:20:22
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销售范围售全国
入驻年限第9年
营业执照已审核
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产品特点
- 近日,法国Phasics为满足客户需求,推出基于砖利的四波横向剪切干涉技术和高性能InGaAs探测器的高性价比SID4-SWIR近红外波前分析仪,波段范围900-1700nm,采样点数量高达5120(80*64),灵敏度2nm,动态范围100μm,采样频率120Hz
详细介绍
SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪
基于PhasicsZG的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器,提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外,SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7μm,这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
SID4-Swir 光学器件测量 自适应光学
特点:
由于其独特的ZG技术技术,Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点:
1.高分辨率:160x128测量点
2.高灵敏密度:整个光谱范围内相位噪声低于2nm
3.消色差:0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm)
4.紧凑:易于集成
应用:
透镜测试:SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信,夜视和其他军事和监视设备。无色差,SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
激光束测试:SID4 SWIR也可以短波红外光源,像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
SID4-SWIR-HR高分辨近红外波前分析仪产品参数:
波长范围
0.9-1.7μm(可扩展到2.4μm)
通光孔径
9.6 x 7.68 mm2
空间分辨率
60 μm
采样点(相位/强度)
160 x 128 (> 19 000 points)
相位相对灵敏度
<2nm RMS
相位精度
15nm RMS
动态范围
100μM
采样频率
120 fps
实时分析频率
7 fps (full resolution)
数据接口
Giga Ethernet
尺寸(w x h x l)
100 x 55 x 63 mm
重量
455g
解决方案