波前分析仪

hasics SID4系列 波前传感器法国Phasics 公司的产品基于其波前测量ZL技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave LateralShearing Interferometry）。在

hasics SID4波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉ZL技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率（160x120测量点），且使用简便。 SID4-HR 光学器件测量

hasics SID4-Lwir 8-14μm高精度波前传感器基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术和焦平面非冷却相机的SID4 LWIR工作范围在长波红外8-14μm，结构紧凑，易于集成到光学

hasics SID4 IR-MCT波前传感器SID4 IR-MCT集成了 Phasics四波横向剪切干涉ZL技术和新一代冷却MCT探测系统。这种独特的波前像差分析仪提供了一个非常高分辨率和超高灵敏度

品介绍基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术，SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段（3-5，8-14µm）。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率（160×120个测量点）。非常适合红外目标

hasics SID4 UV波前传感器Phasics利用其ZL的四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率（250x250测量点）和高灵敏度（0.5 nm RMS）

hasics SID4-HR高分辨波前传感器基于Phasics四波横向剪切干涉ZL技术，SID4-HR波前分析仪提供了一个非常高的相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要

hasics SID4-Swir波前传感器基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度， 确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，S

hasics SID4-UVHR波前传感器Phasics利用其ZL的四波横向剪切干涉技术，在紫外波前测量提供了优秀的解决方案。它有非常高空间分辨率（345x275测量点）和在190-400nm范围具有

品介绍Phasics SID4 NIR波前传感器 基于Phasics四波横向剪切干涉ZL技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有超高分辨率（160x120测量点）。确保非

国PhasicsSID4系列波前传感器 -----四波横向剪切干涉波前传感器 产品介绍：法国PHASICS 的波前分析仪（上海屹持光电代理）（专li号CN200780005898），基于其波前测量ZL

ID4-Swir-HR波前传感器基于PhasicsZL的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SW

hasics真空环境兼容波前分析仪SID4-V为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国Phasics推出了新型高精度波前分析仪SID4-V，是