| 产品简介 |
受用户委托,设计NdFeB温度不可逆损失测量仪满足其国外用户对材料品质的考核提供数据,加温温度常温~200℃,加磁场范围:0~1T。设计方法实际较为简单,或者目前拥有永磁材料BH测量仪器的企业,都可利用手头的设备完成,节约成本。即采用电磁铁的加温极头,完成对磁钢的加热(分闭路电磁铁加热和通过夹具传导加热),配合磁通计和标准一维亥姆霍兹线圈测量不同温度下的磁通(或磁矩)变化获得热磁通密度损失曲线,通过测试加热后回到常温磁通变化获得可逆磁通密度损失曲线,同时获得不可逆磁通密度损失曲线。采用可施加反向磁场的电磁铁,同时还可以获得材料的在高温条件下材料的抗磁曲线,可用来考核磁铁在磁路中的使用范围。 |
| FE-2100MD稀土永磁磁通密度实验装置特点 |
| ● 加温常温~200℃,满足被测样品的升温测试要求; |
| ● 配置导热铜夹具,使样品能够均匀加热; |
| ● 可配置磁通磁矩测量设备,测试样品的不可逆磁通密度损失曲线; |
| ● 施加反向磁场,可以获得材料的在高温条件下材料的抗磁曲线; |
| DCT-100间隙可加温电磁铁 |
1、磁场间隙0~50mm连续可调,带数字显示,分辨率0.01mm 2、极面直径100mm,均匀区不低于60mm,均匀度由于0.1%; 3、磁场强度间距25mm条件下,磁场强度不低于750kA/m 4、温度范围:常温~200℃,温度分辨率0.1℃,精度1.0%±0.2℃ |
| FE-200C加热电源 |
1、输入电源:220V±10%,50Hz 2、输出功率:400VA 3、带温度设定和温控探头。 |
| 2100励磁电源 |
1、输入电源:220V±10%,50Hz 2、输出功率:400VA 3、带温度设定和温控探头。 |
| FE-103交直高斯计 |
1、测试量程:0~0.2~2T两档; 2、磁场不确定度:1.0%(1T以下)2.0%(1T~2T) |
报价:¥88000
已咨询1383次永磁材料测量装置
报价:¥88000
已咨询747次永磁材料测量装置
报价:¥88000
已咨询741次永磁材料测量装置
报价:¥88000
已咨询747次永磁材料测量装置
报价:¥88000
已咨询1383次永磁材料测量装置
报价:面议
已咨询2136次
报价:面议
已咨询1867次
报价:面议
已咨询2341次光电综合
报价:¥20000
已咨询213次高频介电常数测试仪
报价:¥220
已咨询28次磁粉
湖南省永逸科技有限公司在亥姆霍兹线圈磁场发生方面,走在国际同行前列。目前相继开发设计出:圆形、方形、和八边形亥姆霍兹线圈,同时借助有限元设计工具,开发了补偿式八边形亥姆霍兹线圈,将线圈均匀区提高了八倍。
FE-3 core meter铁芯测量仪适合用于对非晶和硅钢互感器铁芯伏安特性的快速测量,配备单匝测试工装,适合对产品的全检。产品设计采用有效值转换电路,提供正弦波和半波两种波形,适应面更加广泛。
FE-30SST LOSSMETER采用小型磁导计设计(30SST)和参考国际通用的磁导计测试标准,通过对方圈样品溯源的量值传递,确定有效磁路长度,并进行完全的空气磁通补偿,满足直接对单片样品的测量,测试非常方便,并较准确。FE-30SST LOSSMETER与目前市场上同类产品有较大区别,单机配置了经过校准的磁导计满足取向和无取向单片硅钢的测量.
FE-30SST LOSSMETER采用小型磁导计设计(30SST)和参考国际通用的磁导计测试标准,通过对方圈样品溯源的量值传递,确定有效磁路长度,并进行完全的空气磁通补偿,满足直接对单片样品的测量,测试非常方便,并较准确。FE-30SST LOSSMETER与目前市场上同类产品有较大区别,单机配置了经过校准的磁导计满足取向和无取向单片硅钢的测量。
FE-MAG1200/2500系列电容式脉冲充磁机采用高压油浸脉冲电容器、可控硅及控制电路组成。交流电通过隔离变压器将电源电压升高,再由整流器变为直流给电容器充电。电容器内储存高压直流电能量。并达到设定电压关断充电路,zui后经过对SCR控制,高夺电能量通过对充磁线圈放电,产生QL磁场,使磁体饱和。
用两个半径和匝数完全相同的线圈,将其同轴排列并令间距等于半径,这种线圈组合称Helmholtz线圈。用它可以产生极微弱的磁场直至数百Gs的磁场;该线圈,均匀区体积大,使用空间开阔,操作简便。可实现一维、二维、三维组合磁场,可提供交、直流磁场,电流与磁场有很好的线性关系。
FE-2100M硅钢材料测量装置适用于测量各种热轧、冷轧取向和无取向的硅钢材料,以及成型的硅钢变压器铁芯的测量。能准确测量工频条件下硅钢材料的磁感应强度Bm、比总损耗Ps和磁滞回线、交流磁化曲线。符合GB/T3655-2000、GB/T13789-92以及IEC 60404-6的规定。
FE-2100SA 型软磁交流测量装置可用于对软磁铁氧体、坡莫合金、非晶和纳米晶等软磁材料闭路样品的准确测量。