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激光共聚焦荧光成像系统 FFS / FLIM

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详细介绍
  • 满足FLIM / FFS PLIM以及TTTR时间标记的时间分辨荧光持续采集;可以选择振镜扫描成像和自动台扫描成像模式;可同时选择,快速获得高分辨大面积的共焦扫描成像数据;


Prof. Joseph R. Lakowicz 实验室选择的FLIM系统

  • 可以选择数字频域技术DFD-FLIM FastFLIM)和时域技术TD-FLIM TCSPC)成像技术;也可以双重选择。用户可以在频域的快速和TCSPC的高分辨中,重复发挥,保证样品的数据高效采集;

  • 可以选择300-1700nm波长范围检测器,2-4通道检测器,用于成像;

  • 可以升级无波长干扰AFM,实现同区域形貌和FLIM同步测试;

  • 可以选择紫外-可见-红外激发波长,单波长或超连续激光器;单光子或双光子的激光器;


  1. 单双光子激光共聚焦扫描成像系统

    1. 扫描模式:共聚焦高级成像和分析软件支持多种扫描模式,

  • 点式扫描模式 - 一个点或多个点组合进行扫描;

  • 线式扫描模式 - XYZ;

  • 光栅模式 - XY

  • 圆形模式 - 轨道扫描给定的中心点和半径;

  • 多维组合扫描模式 - XZYZXYZ;

  • 每个扫描模式可以随着时间的推移相结合。

  • 振镜扫描:高级镀银高反射率的光学振镜

    • 最大扫描速度为5kHz;最短停留时间为4微秒;

    • 图像数据采集模式及输出:光子计数成像。除了软件自身所用图像存储格式,软件要支持TIFF,PNG,AVI等图像格式的输出。

  • 可配倒置或正置荧光显微镜(Olympus,Nikon, Zeiss, Leica, etc.);

  • 可配手动或软件驱动的电动(xy或xyz)显微镜平台。

  • 单双光子激光共聚焦扫描检测系统

    1. 可配1 ~ 3个独立荧光通道,光谱检测范围由用户的需求来选择的检测器决定。

    2. 每个荧光通道有独立的高灵敏度磷砷化镓光电倍增GaAsP磷砷化镓雪崩型二极管混合型(Hybrid光子计数检测器,每个检测器有独立的增益和制冷调节并由软件控制,每个检测器有独立的光负荷保护功能。

    3. 单光子共焦针孔检测,全自动连续调节型,调节精度从20微米至1毫米。

  • 单光子激光器和红外飞秒激光器系统

    1. 单光子激光器系统:

    • 固体激光器:单一波长,375nm~700nm,操作模式 - 连续或脉冲,重复率可调。

    • 每个激光配有独立的光强调控和快门并由软件控制。

    • 可配多条固体激光器,通过光纤(single-mode polarization maintained)导入到扫描成像系统。

  • 近红外飞秒激光器系统

    • Toptica FemtoFiberPro激光器, 1560nm & 780nm双波长

    • Coherent 或 Spectra Physics Ti:Sapphire 激光器,波长可调 - 680nm ~ 1080nm

    • 红外激光直接导入到扫描成像系统。

    • 红外激光配有独立的光强调控和快门并由软件控制。

  • FFS (FCS,PCH,FCCS,FLCS), scanning FCS,RICS,N&B数据采集系统及软件分析系统

    1. 支持在固定和活标本许多定量显微成像测量。

    2. FFS(FCS, PCH, FCCS,FLCS)数据采集 3种数据采集模式,计数模式时间标记模式时间标记和时间分辨(TTTR)模式。在TTTR模式获得的数据被用于FLCS分析。提供脉冲次序激励(PIE)功能以确保FCCS数据采集精确性。

    3. FFS (FCS, PCH, FCCS,FLCS) 数据分析:软件提供超过20种拟合分析模型可用于FCS和PCH数据分析,考虑了不同的激发光点扩散模式:单光子,双光子(GaussianLorentzian),2D,3D。软件提供文档输入界面便于用户自定义模型和参数。基于提供的模型,用户可测量多种荧光物理参数,包含点扩散空间参数,扩散系数、浓度、分子量,流动速率,三重太的衰减时间,等等.

    4. 扫描FCS (scanning FCS) 数据采集和分析:软硬件支持scanning FCS数据采集模式,软件配有专门分析scanning FCS数据的地毯式解析(carpet analysis)功能。

    5. 格栅图像相关光谱(RICS)数据采集和分析:软硬件支持RICS数据采集模式,配有专门软件分析RICS数据。

    6. 计数和亮度(N&B)数据采集和分析:软硬件支持N&B数据采集模式,配有专门软件分析N&B数据。

  • 快速荧光寿命成像(Fast FLIM)数据采集系统及软件分析系统

    1. 荧光寿命成像(FLIM)和磷光寿命成像(PLIM)数据采集:快速的数字频域荧光寿命成像技术设备,可以支持同时多达4个通道的数据采集和分析检测,每个数据通道的数据采集率可超过107 (10 Million) counts/second数据采集死亡时间小于10ns。可测量小于纳秒(sub-nanoseconds)到毫秒(miliseconds)范围的荧光寿命或磷光寿命。

    2. 荧光寿命成像(FLIM)数据分析:软件提供常用的拟合分析和新颖热门的向量图形分析(phasor plots)。在数据采集时,软件实时反馈数据在phasor plot上的变化以便用户实时观察荧光寿命(lifetime)的变化同时,软件提供基于phasor plot的荧光寿命成像和荧光共振能量转移(FLIM-FRET)的数据分析软件提供基于非线性最小二乘方的循环去卷积算法的拟合分析,用户可定义衰减模型并可选择测量或软件模拟系统相应函数。

    3. 单分子(single molecule)和单分子荧光共振能量转移(single molecule FRET)数据采集和分析软件提供了单分子和基于PIE模式的单分子FRET数据采集功能,并包括了迸发分析(burst analysis),FRET效率计算,柱状图和化学计量测定等等。

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