集成电路 IC 卡温度冲击测试机|伯东

集成电路 IC卡高低温测试
集成电路 IC 卡高低温测试原因：集成电路 IC 卡在出厂前必须经过环境测试，用来模拟集成电路在不同工作环境中的性能，inTEST-Temptronic高低温测试机凭借封装级和晶片级集成电路专用高低温测试机协助厂商完成例如高低温循环测试Thermal cycle、冷热冲击测试 Thermal stock、老化测试等试验。inTEST-Temptronic高低温测试机每秒可快速升温/降温 18 度、测试温度精度高达±1℃，特别适合大规模集成电路的高低温电性能检测。

集成电路 IC 卡高低温测试客户案例一：上 海伯东客户是一家利用 300mm 晶圆进行芯片生产的半导体厂商，经过技术选型，采购 inTEST-Temptronic ATS-505 用于集成电路 IC 卡高低温测试。Temptronic ATS-505 台式设计，体积轻巧，测试温度范围：-20°C 至 +225°C，采用旋钮式控制面板，操作直观。

Temptronic 集成电路高低温测试方法：客户采用 Air Mode 模式直接测试：
Temptronic ATS-505 利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；将被测电路IC卡放置在热流罩位置，根据操作员设定，喷出 和设定温度相差±1℃的气流，从而进行电路板的高低温测试。inTEST ATS-505 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。

集成电路 IC 卡温度测试客户案例二：上海伯东客户是一家 IC 卡生产企业，经过技术选型，采购 Temptronic ThermoStreamATS-535 高低温测试机，ATS-535 内置空压机，温度测试范围：-60°C 至 +225°C，适用于实验室内无空压系统的客户，方便移动。
集成电路 IC 卡温度测试方法：客户采用 DUT Mode 模式测试：
1、将待测 IC卡和温度传感器放置在测试腔中
2、操作员设置需要测试的温度范围
3、启动 ThermoStreamATS-535 ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温；气流通过热流罩进入测试腔
4、测试腔中的温度传感器可实时监测当前腔体内温度，inTEST ATS-535 高低温测试机自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。

鉴于信息保密，更详细的 Temptronic集成电路IC 卡高低温测试方法欢迎拨打电话：021-5046-3511

inTEST ThermoStream 已全面取代 Temptronic 和Thermonics
Temptronic 创立于 1970 年，在 2000 年被 inTEST收购，成为在美国设立的超高速温度环境测试机的SJ制造商。而 Thermonics 创立于1976年，在 2012 年被 inTEST收购，使 inTEST更强化高低温循环测试以及温度冲击测试领域的实力。在 2013 年 inTEST Thermal Solutions用崭新的研发技术发展出duchuang的温度环境测试机，将 Temptronic TPO 系列以及 Thermonics PTFS 系列整合进化成 inTESTThermoStream ATS 超高速温度环境测试系列产品。上海伯东作为 inTEST ZG总代理，全权负责 inTEST新品销售和售后维修服务。
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